[实用新型]一种用于筛除COG-LCD废品的测试机

说明书

技术领域

本实用新型涉及LCD测试仪器领域，尤其涉及一种LCD生产过程中用于筛除COG-LCD废品的测试机。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display的英文缩写，即液晶显示器)由于其技术优势，已经广泛应用于生产生活中。因此生产LCD的相关工艺水平不断提高。在目前的LCD生产中，LCD产家筛除COG-LCD废品基本采用探针式白片测试机，但是这种探针式白片测试机结构相对复杂，且价格高且需要的数量多，所以投入较大。探针式白片测试机工作原理是采取对阴极阳极施加一定电压，并通过探针的行走来筛除断笔、阴极间短路、阳极间短路等废品，但实际使用中发现其有测试速度过慢，效率低，探针的行走容易划伤ITO造成废品等缺陷。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提出一种结构简单、成本更加低廉的测试机来应用于筛除COG-LCD废品。

本实用新型的技术方案是：

本实用新型的用于筛除COG-LCD废品的测试机，包括：一电压输出单元，连接于测试头；

测试头，连接于电压输出单元输入端，准确放置于被测LCD的对应测试区；放置台，承载被测LCD，其上设置有固定辅助构件；

固定辅助构件，设置于放置台上，辅助定位被测LCD。

进一步的，所述的测试头是3个，对应的测试区也是3个；所述的测试头包括第一测试头，连接于电压输出单元的低电平输出端，准确放置于第一测试区，第二测试头，连接于电压输出单元的高电平输出端，准确放置于第二测试区，第三测试头，连接于电压输出单元的高电平输出端，准确放置于第三测试区。

本实用新型采用如上技术方案，具有结构相对已有的探针式白片测试机更简单，成本也更加低廉，测试速度更快，且解决了原有探针的行走容易划伤ITO造成废品等缺陷。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是被测LCD引出测试区的布线示意图；

图3是本实用新型的测试头的实施例一示意图；

图4是本实用新型的测试头的实施例二示意图；

图5是本实用新型的测试头的实施例三示意图。

具体实施方式

现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

参阅图1所示，本实用新型的用于筛除COG-LCD废品的测试机，包括：一电压输出单元1，连接于测试头2；

测试头2，连接于电压输出单元1输入端，准确放置于被测LCD3的对应测试区；

放置台4，承载被测LCD3，其上设置有固定辅助构件5；

固定辅助构件5，设置于放置台4上，辅助定位被测LCD3。

参阅图2所示，不同型号的被测LCD3的玻璃片，按照需要测试的要求引出连接线，并根据需要通高、低电平需要分为3个测试区。图2所示的其中的一种玻璃片的测试引线区的情况，其中分布上方的第一测试区31，分布于右边的第二测试区32，分布于左边的第三测试区33，测试区可以通过液晶屏的斑马线把各测试区的引线连接起来，方便与测试头2的接触，相对已有的探针式更能够提高测试效率。

参阅图3、图4、图5所示，所述的测试头2是3个，对应于上述的3个测试区；所述的测试头包括第一测试头21，连接于电压输出单元1的低电平输出端，准确放置于第一测试区31，第二测试头22，连接于电压输出单元1的高电平输出端，准确放置于第二测试区32，第三测试头23，连接于电压输出单元1的高电平输出端，准确放置于第三测试区33。测试头2可以根据不同测试需要和测试区的各导线导通需要设计成不同方式。其中，图3是本实用新型的测试头2的实施例一示的意图，其中第一测试头21接触条较长，第二测试头22和第三测试头23较短，与第二测试区32和第三测试区33部分接触导通；图4是本实用新型的测试头2的实施例二的示意图，第二测试头22和第三测试头23类似梳齿间隔导通的结构；图5是本实用新型的测试头2的实施例三的示意图。

本实用新型的测试机可以用于LCD芯片绑定前的玻璃片废品筛选。如：

1.筛除断笔及层间短路

即模拟软件测试11111111，将所有阴极和所有阳极各分成若干组，在阴极和阳极施加一定电压，并利用普通LCD测试仪功耗设置功能，就可筛除断笔及层间短路废品。

2.筛除阴极间短路

即模拟软件测试10101010，将所有阴极按10101010分组，所有阳极为一组，并在阴极和阳极施加一定电压，若阴极未能按10101010显示即为废品。

3.筛除阳极间短路