[实用新型]用于电子式塑壳断路器的测试仪

权利要求书

1.用于电子式塑壳断路器的测试仪，包括一外壳及设置于外壳内的电路，其特征在于，所述的电路是：

MCU控制回路，包括MCU控制器(101)和连接于其上的震荡发生电路(103)，所述的MCU控制回路连接至人机界面模块(102)、信号发生模块(105)、电源模块(108)、脱扣信号采样回路(107)；

所述的信号发生模块(105)和脱扣信号采样回路(107)连接于电子式塑壳断路器的测试接口(106)。

2.根据权利要求1所述的的测试仪，其特征在于：所述的人机界面模块(102)包括连接于MCU控制器(101)的输出端口的报警电路(1021)、LCD显示模块(1022)和按键单元(1023)连接于去抖动电路(1024)后连接至MCU控制器(101)的输入端口。

3.根据权利要求2所述的的测试仪，其特征在于：所述的报警电路(1021)是蜂鸣器正极串联一限流电阻(R10)连接于5V驱动电压，其负极连接三极管(Q1)的e极，三极管(Q1)的c极接地，三极管(Q1)的b极串联一限流电阻至MCU控制器(101)的输入端口；所述的LED显示模块(1022)是连接于LCD接口(CN2)和LCD液晶屏组成，所述的LCD接口(CN2)的1口、14口、19口接驱动电压，2口、20口接地；接地端与驱动电压端接入一旁路电路(C11、C12)；按键单元(1023)是多个按键(S1-S4)一端连接限流电阻(R13-R16)，另一端输出，并连接由电阻(R18-R21)、电容(C13-C16)并联至地组成的滤波电路。

4.根据权利要求1所述的的测试仪，其特征在于：所述的信号发生模块(105)包括串联的DAC电路(1051)和信号放大回路(1052)，DAC电路(1051)连接于MCU控制器(101)的控制电压信号端口(104)上。

5.根据权利要求4所述的的测试仪，其特征在于：所述的DAC电路(1051)是由DAC芯片(U6)和外围电阻(R28、R29)构成的DAC输出电路，DAC芯片(U6)的输出端口连接一旁路电容(C23)至地后串接一电阻(R25)至信号放大回路(1052)的输入端，信号放大回路(1052)是由运算放大器(U7A)和外围电阻(R26、R27)构成的信号放大电路。

6.根据权利要求5所述的的测试仪，其特征在于：所述的DAC芯片(U6)是TLC5615C芯片，所述的运算放大器(U7A)是LM224A芯片。

7.根据权利要求1所述的的测试仪，其特征在于：所述的脱扣信号采样回路(107)是采样电阻、比较电路、滤波电路组成，由电阻(R30、R31、R32、R33、R34)、电容(C25)、稳压管(D3)、运算放大器(U7B)组成的回路，其输入电阻(R30)连接被测试设备的供电端，于电阻(R32)分压输入至运算放大器(U7B)的输入端，运算放大器(U7B)的输出端输出测量工作电流。

8.根据权利要求1所述的的测试仪，其特征在于：所述的电源模块(108)包括9V电池单元(1081)、24V升压电路(1082)和3.3V稳压电路(1083)，所述的9V电池单元(1081)输出连接于24V升压电路(1082)，所述的24V升压电路(1082)输出连接于3.3V稳压电路(1083)和脱扣信号采样回路(107)，所述的3.3V稳压电路(1083)输出连接于MCU控制器(101)。