[实用新型]答题卡质量检测装置无效

专利信息
申请号: 200920141715.3 申请日: 2009-02-16
公开(公告)号: CN201355345Y 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 樊斌;沙金巧 申请(专利权)人: 苏州科技学院
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/59
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人: 孙仿卫
地址: 215011江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 答题 质量 检测 装置
【权利要求书】:

1、一种答题卡质量检测装置,其特征在于:它包括反射光产生变换电路(1)、透射光产生变换电路(2)、与所述的反射光产生变换电路(1)的输出端和透射光产生变换电路(2)的输出端相连接的模数转换器(3)、与模数转换器(3)的输出端相电连接的控制器(4)、与所述的控制器(4)的输出端相电连接的显示电路(5),所述的反射光产生变换电路(1)将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路(2)将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器(3)进行模拟到数字的转换后由控制器(4)进行处理,控制器(4)将答题卡相应处的反射值或/和透射值通过显示电路(5)进行显示。

2、根据权利要求1所述的答题卡质量检测装置,其特征在于:所述的反射光产生变换电路(1)主要由设置在同一侧的发光二极管(L1、L2)及位于发光二极管(L1、L2)中间的光敏晶体管(N1)组成。

3、根据权利要求1或2所述的答题卡质量检测装置,其特征在于:所述的透射光产生变换电路(2)主要由透射发光二极管(L3)及与所述的透射发光二极管(L3)相对且处于同一直线上的接收晶体管(N2)组成。

4、根据权利要求3所述的答题卡质量检测装置,其特征在于:所述的反射光产生变换电路(1)与透射光产生变换电路(2)集成在一独立的光电头上,且所述的光电头具有插设待测答题卡从而进行透射检测的插置空间。

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