[实用新型]答题卡质量检测装置无效
申请号: | 200920141715.3 | 申请日: | 2009-02-16 |
公开(公告)号: | CN201355345Y | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 樊斌;沙金巧 | 申请(专利权)人: | 苏州科技学院 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55;G01N21/59 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215011江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 答题 质量 检测 装置 | ||
1、一种答题卡质量检测装置,其特征在于:它包括反射光产生变换电路(1)、透射光产生变换电路(2)、与所述的反射光产生变换电路(1)的输出端和透射光产生变换电路(2)的输出端相连接的模数转换器(3)、与模数转换器(3)的输出端相电连接的控制器(4)、与所述的控制器(4)的输出端相电连接的显示电路(5),所述的反射光产生变换电路(1)将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路(2)将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器(3)进行模拟到数字的转换后由控制器(4)进行处理,控制器(4)将答题卡相应处的反射值或/和透射值通过显示电路(5)进行显示。
2、根据权利要求1所述的答题卡质量检测装置,其特征在于:所述的反射光产生变换电路(1)主要由设置在同一侧的发光二极管(L1、L2)及位于发光二极管(L1、L2)中间的光敏晶体管(N1)组成。
3、根据权利要求1或2所述的答题卡质量检测装置,其特征在于:所述的透射光产生变换电路(2)主要由透射发光二极管(L3)及与所述的透射发光二极管(L3)相对且处于同一直线上的接收晶体管(N2)组成。
4、根据权利要求3所述的答题卡质量检测装置,其特征在于:所述的反射光产生变换电路(1)与透射光产生变换电路(2)集成在一独立的光电头上,且所述的光电头具有插设待测答题卡从而进行透射检测的插置空间。
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