[实用新型]综合能效质量测试装置有效

专利信息
申请号: 200920183174.0 申请日: 2009-09-30
公开(公告)号: CN201600440U 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 石卫涛;黄锋 申请(专利权)人: 福州福光电子有限公司
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 翁素华
地址: 350005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 综合 能效 质量 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种综合能效质量测试装置,其特征在于:包括控制运算显示模块,以及交流采样模块和直流采样模块的至少一种,且交流采样模块和直流采样模块的数目之和为至少两个,所述交流采样模块和直流采样模块均连接至所述控制运算显示模块,所述控制运算显示模块对所述交流采样模块和直流采样模块进行控制,并对所述交流采样模块和直流采样模块采集到的数据进行同步存储和技术处理。

2.根据权利要求1所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:

所述交流采样模块包括一交流电压采样模块、一交流电流采样模块;所述交流电压采样模块包括三相交流电压输入,该三相交流电压输入连接一信号衰减电路,该信号衰减电路再连接一过零比较器;所述交流电流采样模块至少包括三相交流电流输入,该三相交流电流输入连接一信号衰减电路,该信号衰减电路再连接另一过零比较器;

所述直流采样模块包括一直流电压采样模块、一直流电流采样模块;所述直流电压采样模块包括一直流电压输入,该直流电压输入连接一信号衰减电路,该信号衰减电路再连接一信号放大电路;所述直流电流采样模块包括至少一路直流电流输入,该至少一直流电流输入均连接至另一信号放大电路,所述两信号放大电路均再连接至一直流CPU;

所述控制运算显示模块包括主CPU、一A/D数模转换控制电路、键盘、LCD显示模块、供电模块、存储器,该A/D数模转换控制电路、键盘、LCD显示模块、供电模块以及存储器均连接至所述主CPU,

所述直流CPU再连接至所述主CPU。

3.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述交流电压采样模块和交流电流采样模块的两个过零比较器直接连接至所述主CPU。

4.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述交流电压采样模块和交流电流采样模块的两个过零比较器共同连接一交流CPU再连接至所述主CPU。

5.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述交流电压采样模块和交流电流采样模块的两个过零比较器分别连接交流CPU再连接至所述主CPU。

6.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述交流电流采样模块还包括一地线交流电流输入或一中线交流电流输入。

7.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述直流电流采样模块包括两路直流电流输入。

8.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述控制运算显示模块还包括一测试功能项选择和显示转换测试电路,以及测试功能项选择和显示转换测试电路均连接至所述主CPU。

9.根据权利要求2所述的综合能效质量测试装置,其特征在于:所述控制运算显示模块还包括一USB接口。

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