[实用新型]纳米颗粒粒径的检测装置

权利要求书

1.一种纳米颗粒粒径的检测装置，其特征在于其由激光器(1)、光纤耦合器(2)、干涉仪(3)、光电倍增管(4)、光谱分析仪(5)、计算机(6)、准直聚焦透镜组(7，8)、样品池(9)和光纤组成，其中激光器(1)、光电倍增管(4)、干涉仪(3)和准直聚焦透镜组(7，8)通过光纤与光纤耦合器(2)桥接；光电倍增管(4)、光谱分析仪(5)、计算机(6)通过电缆依次连接。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述激光器(1)为中心波长为600nm的二极管激光器。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述光纤耦合器(2)为2×2光纤耦合器。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于所述2×2光纤耦合器为带宽80nm、50∶50宽带光纤耦合器。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述干涉仪(3)为法布里珀罗干涉仪。

6.据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述光电倍增管(4)为EG&G公司的J16A18A-R100U型雪崩管。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述所述准直聚焦透镜组(7、8)为两个非密接组合的准直透镜(7)和聚焦透镜(8)组成。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于所述准直透镜(7)和聚焦透镜(8)的焦距为35-50mm。

9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于所述准直透镜(7)和聚焦透镜(8)的焦距为50mm。

10.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于所述光纤为传输波长为630nm单模光纤。