[实用新型]三维尺寸自动分选机

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种分选装置，特别涉及一种三维尺寸自动分选机。

背景技术

稀土永磁体是现代工业中不可缺少的功能材料。在稀土永磁体的生产中，对稀土永磁体的内外径、高度等尺寸参数进行测量，是磁体装箱出货前必须进行的工作。由于磁体的数量很大，对磁体的尺寸的精确测量，一直以来都是困扰行业的技术难题。在实际的生产中，实行对磁体进行人工抽检的方法，只要抽检的结果在合理的范围内，就认为该批磁体合格。这种方法具有明显的缺陷，一是人工方法容易产生误差，另外由于采用抽检的方式，因此可能会漏检不合格的磁体。近年来，随着精密电机、微特电机，精密传感器等的广泛使用，电子元器件正朝着小型化，精密化方向发展，这对使用在其中的驱动磁体的尺寸、公差等参数提出了更为严格的要求，采用抽检的方式来检查磁体的尺寸已经不能满足技术的需要。

申请号为200320108282.4的中国实用新型专利公开了一种手动高精度内孔光学检测仪，该检测仪包括CCD摄像头、工夹具、显微镜、适配镜和显示器，其中，显示器与CCD摄像头连接，显示器的屏幕表面设置有数条互相平行的刻度线，利用具有长工作距离的平场消色差显微物镜进行放大检测的工件，通过无畸变适配镜将经物镜放大后的工件的图像输入CCD摄像头，摄像头将图像输入显示器，使图像呈现在显示器上，将工件与显示器屏幕表面上的刻度线，人工读取微小内孔工件的内外径数据。该技术具有以下的缺点：

1、必须手动放置磁体，不利于大批量作业；

2、只能测量磁体的内外径，不能同时测量磁体的高度，即只能测量X-Y平面即工件所在平面的投影尺寸，不能同时测量Z轴方向即工件中心轴线方向的尺寸；

3、磁体尺寸数据依然依靠人工读取并记录。

本申请人的申请号为“200810207927.7”的中国发明专利申请，提出了一种磁体尺寸自动测量分选装置，该装置包括CCD摄像头、与其连接的图像处理单元以及PLC控制电路，通过CCD摄像头拍摄磁体图像信息，图像处理单元对所得到的图像信息处理，通过与设定的值比较，判断磁体尺寸是否在合格的范围内，如果磁体的尺寸不合格，则PLC控制电路启动分选装置，将不合格磁体剔除，从而实现磁体内外径尺寸的自动测量，分选。

该发明也只能实现对X-Y平面投影尺寸的测量和分选，对于磁体沿Z轴方向高度或者长度，则无法测量。例如，对圆环状的磁体来说，只能测量磁体的内外径，不能同时测量磁体的高度。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是现有技术的分选装置，无法测量磁体在中心轴线方向的高度、从而不能检测磁体的高度是否符合要求。

为解决以上技术问题，本实用新型提供一种三维尺寸自动分选机，包括：机架、输送轨道、磁体检测探头、激光检测头、摄像头、数据处理器、控制电路以及分选装置；

所述输送轨道设置在机架上，并且该输送轨道与电机连接，由电机驱动输送轨道运转；

所述磁体检测探头和摄像头设于所述机架上方；

所述磁体检测探头、控制电路、摄像头分别与所述数据处理器连接；

所述分选装置与所述控制电路连接；

还包括第一激光检测头和第二激光检测头，对称固定于输送轨道两侧，并且与所述数据处理器连接。

可选的，所述分选装置包括：气缸和气动推手；

所述气缸固定于机架一侧并与所述控制电路连接；

所述气动推手设置在输送轨道上并与所述气缸连接；

可选的，所述输送轨道为直线型；

可选的，还包括支架，固定于所述机架上，所述摄像头固定于所述支架上；

可选的，还包括光源，固定在所述支架上，与所述控制电路连接；

可选的，所述摄像头为CCD摄像头；

可选的，所述光源为LED光源或荧光照明光源；

可选的，所述磁体检测探头为红外线探测头；

可选的，还包括与所述数据处理器连接的显示器；

可选的，所述控制电路为PLC控制电路。

本实用新型的三维尺寸自动分选机，在现有技术的基础上增加第一激光检测头和第二激光检测头，可以检测磁体的高度，解决现有技术的三维尺寸自动分选机不能同时检测磁体高度、从而不能确定磁体高度是否符合要求的缺点。

附图说明

图1为本实用新型具体实施例的三维尺寸自动分选机的侧面结构示意图；

图2为图1所示的本实用新型具体实施例的三维尺寸自动分选机的俯视示意图；以及

图3为本实用新型具体实施例的第一激光检测头和第二激光检测头的工作原理示意图。

具体实施方式