[实用新型]一种X荧光分析全自动熔样机用试样座有效
| 申请号： | 200920223717.7 | 申请日： | 2009-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN201607359U | 公开（公告）日： | 2010-10-13 |
| 发明（设计）人： | 余鹏飞;李寿平;赵亮;杨涛;丁强 | 申请（专利权）人： | 洛阳特耐实验设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N23/223 |
| 代理公司： | 洛阳明律专利代理事务所 41118 | 代理人： | 卢洪方 |
| 地址： | 471003 河南省*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 分析 全自动 样机 试样 | ||
【权利要求书】：
1.一种X荧光分析全自动熔样机用试样座，其特征在于：在试样座(2)的壁上具有多个用以透热的透热孔(3)并使透热孔与试样座放置坩埚的凹槽(4)相连通。
2.根据权利要求1所述的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座，其特征在于：所述的试样座(2)下端设置有用以支承试样座的支撑棒(1)。
3.根据权利要求1所述的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座，其特征在于：所述位于试样座(2)壁上的多个透热孔(3)沿试样座圆周分布。
4.根据权利要求2所述的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座，其特征在于：所述的支撑棒(1)和试样座(2)为一体成型结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于洛阳特耐实验设备有限公司，未经洛阳特耐实验设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920223717.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
