[实用新型]一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X荧光光谱镀层分析仪，具体涉及一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器。

背景技术

X荧光光谱分析仪器是使用X射线照射试样，对产生的X射线荧光进行解析，用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷，精度高，成本低等特点，已经在很多行业得到广泛的应用。

现有技术中，其分析样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。

X荧光光谱镀层分析仪器是X荧光光谱分析仪中的一种，主要用于对尺寸范围较大的部件上进行镀层厚度分析和含量的逐点测试，其主要原理是光源系统发射出X荧光，X荧光作用在样品上后，样品中的各个X会被激发出特征X荧光，这些X荧光被探测器系统所接收，分析转化为电信号，电信号经过系统模块的处理，进而得到用户所需要的分析信息。

目前对于准直器上的小孔加工一直是X荧光光谱镀层分析仪的技术难点，已知的对于直径小于0.3mm的小孔利用一般的传统加工工艺是很难实现的，即使采用一些特种加工的方法也存在加工成本高和良品率低下的问题。

因此对现有的X荧光光谱镀层分析仪的准直器及其加工方法进行改进已成为本技术领域中亟待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服上述技术的不足，提供一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器，其解决了原有X荧光光谱镀层分析仪的准直器加工存在的技术缺陷和设计弊端。

本实用新型为满足上述目的，采用以下技术方案：一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器，所述准直器由三个片体组成，其中，第一片体的一长边与第二片体的一长边对齐拼接，第三片体叠放在所述第一片体与所述第二片体上，所述第一片体或所述第二片体的中的一长边的中部开设有一微槽，所述第三片体的中部开设有一长槽，所述微槽与所述长槽在长度方向上垂直叠放。

更进一步，所述微槽的长大于等于所述长槽的宽。

更进一步，所述第一片体、所述第二片体面积相等。

更进一步，所述第三片体的面积等于所述第一片体与所述第二片体面积之和。

更进一步，所述长槽为哑铃形。

更进一步，所述第三片体上还设有沉头孔。

基于上述设计，本实用新型的优点在于：整个准直器结构简单；实现了传统工艺较难实现的微孔的加工；精度得到了很好的保证；推动了X荧光光谱镀层分析仪的发展。

本实用新型的其他目的和优点可以从本实用新型所揭露的技术特征中得到进一步的了解。为让本实用新型之上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1是本实用新型之一实施例的一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器的第一片体与第二片体拼接结构示意图；

图2是第三片体叠放在第一与第二片体上后组成本实用新型的准直器的结构示意图；

图1中的标号说明：第一片体1、第二片体2、第三片体3、微槽4、长槽5、沉头孔6。

具体实施方案：

请参考图1及图2所示，本实用新型的一种用于X荧光光谱镀层分析仪的准直器，其由三个片体组成，其中，第一片体1的一长边与第二片体2的一长边对齐拼接，第三片体3叠放在第一片体1与第二片体2上，第一片体1或第二片体2的中的一长边的中部开设有一微槽4，第三片体3的中部开设有一长槽5，微槽4与长槽5在长度方向上垂直叠放，微槽4的长大于等于长槽5的宽，第一片体1、第二片体2面积相等，第三片体3的面积等于第一片体1与第二片体2面积之和，长槽5为哑铃形，第三片体3上还设有沉头孔6，本实用新型中沉头孔6的数量为四个用于准直器的固定。

本实用新型的X荧光光谱镀层分析仪的准直器就是利用长槽5与微槽4的结构实现了传统的准直器的微孔，加工工艺十分简便，只能控制微槽4的长度与宽度就能实现精度很高的准直器。