[实用新型]激光测距仪无效

专利信息
申请号: 200920236076.9 申请日: 2009-09-23
公开(公告)号: CN201514481U 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 陈柏志 申请(专利权)人: 伊玛精密电子(苏州)有限公司
主分类号: G01S17/36 分类号: G01S17/36
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 朱戈胜
地址: 215133 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 激光 测距仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及工业自动化控制,具体是一种用于工程精确测量等的机构测距仪。

背景技术

在激光测距领域有两种主要方法,脉冲式和相位差式,而传统的激光测距多为脉冲式测距,测量距离一般在100m以上,且误差较大,测量精度大多为“cm”数量级,对近距离的长度测量则有一定的局限性,不能进行准确测量甚至不能测量。

发明内容:

为解决传统方法在近距离激光测量中存在的近距测量不准确和误差较大的问题,本实用新型提供了一款激光测距仪,具体技术方案为:

一种激光测距仪,包括供电系统、激光模组和控制系统;所述供电系统连接激光模组和控制系统为它们供电,其特征是所述激光模组是相位差式测距激光模组。

所述控制系统包括微处理器、显示模块和外围输出电路;微处理器的输出端连接显示模块和外围输出电路。所述外围输出电路包括NPN开关量输出电路、PNP开关量输出电路、模拟电压输出电路和模拟电流输出电路。显示模块包括LED状态显示模块和液晶显示模块。

所述供电系统是DC/DC转换电路,DC/DC转换电路的输入端外接直流电源,DC/DC转换电路的输出端连接激光模组和控制系统。

所述相位差式测距激光模组包括光源、调制器、主振器、光学发射/接收系统、光电转换器、相位测量计、主控振荡器、本机振荡器、参考信号混频器和测距信号混频器;

所述主控信号振荡器的输出端连接调制器,调制器的输出端与光源连接,载波后的光波经过光学发射系统发射;其中一部分光波经内光路传到光学接收系统,另一部分光波经外光路传到光学接收系统,两部分光波传入光电转换器;所述光电转换器的输出端连接测距信号混频器的输入端,测距信号混频器的输入端还连接本机振荡器的输出端;所述测距信号混频器的输出端经放大电路连接相位测量计的输入端;

所述参考信号混频器的输入端连接主控振荡器和本机振荡器的输出端,参考信号混频器的输出端经选频放大电路连接相位测量计的输入端;

所述光电转换器是光电倍增管,所述光电倍增管前端设有连续减光板。

本测距仪的原理如下:

调制波发射并返回后即为高频信号,经测距信号混频器进行光电混频,经过选频放大后得到一个低频测距信号。该低频测距信号仍保留了高频测距信号原有的相位延迟。为了进行比相,主振高频测距信号的一部分称为参考信号与本振高频信号同时送入参考信号混频器,经过选频放大后,得到可作为比相基准的低频参考信号,由于该低频参考信号没有经过往返测线的路程,所以该低频参考信号不存在相位延迟。因此,低频测距信号和低频参考信号同时送入相位测量计采用数字测相技术进行相位比较,运算器将此相位延迟通过计算将相位差传递给微处理器,由微处理器将此变化转换成光波的传输距离并作相应显示或输出。

相位式测距采用光波作为载波,通过一个调制器使载波的振幅或频率按照调制波的变化做周期性变化,测距时,通过测量调制波在待测距离上往返传播所产生的相位变化,间接的确定传播时间,进而求得待测距离。本实用新型采用多尺测量,即采用对同一距离进行多次、不同的调制光波(这些调制光波则被称之为光尺或测尺)测量,再把测得的数据结合起来,用较长的测尺(又叫辅助测尺或粗测测尺)粗测,用较短的测尺(又叫基本测尺或精测测尺)精测,这样既可以保证测量的确定性(单值性),又可以保证较高的测量精度。

本测距仪的主振和本振两个部件中还产生一组粗测尺的振荡频率,即主振频率和本振频率。如前所述,若用粗测尺频率进行同样的测量,把精测尺与一组粗测尺的结果组合起来,就能得到整个待测距离的数值了。

调制器,调制器有调制频带宽、调制电压较低和相位均匀性较好的优点,其作用是将测距信号载在光波上,使发射光的振幅随测距信号电压而变化,成为一种调制光波。

另外,在光接收部分增加了光电倍增管,倍增管是一种极其灵敏的高增益光电转换器件,其除了能把光信号转换成电信号以外,还能把电信号进行高倍率的放大,具有很高的灵敏度,放大倍数达到106~107数量级。在倍增管前面还设置了一个连续减光板,以便按距离的远近调节进入的光强的大小,同时可借以避免强光照射倍增管的阴极,造成阴极疲劳和损坏,起到保护作用。

一定的测尺长度对应一定的激光调制频率,又叫做测尺频率,多尺测量时采用一组数值相近的调制频率,通过测量各测尺频率的相位尾数,并取其差值来间接测定相应的差频频率的尾数,把高频信号转化为低频信号(即“同步解调”),再进行相位差测量,这就是所谓的“差频测相”。

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