[实用新型]一种无损检测非平面物品表面的装置无效
申请号: | 200920245347.7 | 申请日: | 2009-11-19 |
公开(公告)号: | CN201555809U | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 赵建林;邸江磊;孙伟伟;王倩;焦向阳 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 王鲜凯 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 无损 检测 平面 物品 表面 装置 | ||
1.一种无损检测非平面物品表面的装置,其特征在于包括激光器(1)、显微物镜(2),剪切角固定的光楔(4),柱透镜(5),线阵CCD(6),二维方向移动微位移平台(7)和计算机(8);激光器(1)的光轴与被测物品的中心轴线呈0.01°~20°角度放置,在激光器(1)的光轴上与被测物品之间设置显微物镜(2);在被测样品反射光束的中心轴线上依次设置剪切角固定的光楔(4)、柱透镜(5)和线阵CCD(6);线阵CCD(6)固定于二维方向移动微位移平台(7)上,线阵CCD(6)采集的图像信号输出至计算机(8),计算机的控制信号输出至二维方向移动微位移平台(7)控制二维方向移动微位移平台(7)的移动;所述的线阵CCD(6)位于样品通过柱透镜5)所成像的像平面上;所述的剪切角固定的光楔(4)紧贴柱透镜(5)放置,调整经过剪切角固定的光楔(4)的两束光相对于待测样品轴线对称,且两束光之间角度为0.01°~20°;调整所述显微物镜(2)距被测样品的位置使通过显微物镜(2)扩束后的光束照明整个被测样品表面。
2.根据权利要求1所述的无损检测曲面物品表面的装置,其特征在于:所述激光器(1)采用氦氖激光器.
3.根据权利要求1所述的无损检测曲面物品表面的装置,其特征在于:所述线阵CCD(6)为像素呈一维阵列分布的电荷耦合器件。
4.根据权利要求1或3所述的无损检测曲面物品表面的装置,其特征在于:所述的线阵CCD(6)为线阵CMOS。
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