[实用新型]非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备无效
申请号: | 200920250214.9 | 申请日: | 2009-11-12 |
公开(公告)号: | CN201974444U | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 张彦军 | 申请(专利权)人: | 国家纳米技术与工程研究院 |
主分类号: | G01Q40/00 | 分类号: | G01Q40/00;G01Q40/02;G01Q70/10;G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300457 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 破坏性 评估 纳米 尺度 玻璃 探针 性能 仪器设备 | ||
1.一种非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备,包括玻璃微探针,其特征在于它还包括用于观测玻璃微探针形状的扫描电镜及膜片钳电阻测量设备;所说的膜片钳电阻测量设备由膜片钳放大器构成,所说的膜片钳放大器与充灌电极内液的玻璃微探针连接。
2.根据权利要求1所说的一种非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备,其特征在于所说的电极内液为0.15M KCl。
3.根据权利要求1所说的一种非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备,其特征在于所说的膜片钳放大器采用商用美国Axon膜片钳Multiclamp 700B放大器。
4.根据权利要求1所说的一种非破坏性地评估纳米尺度玻璃微探针性能的仪器设备,其特征在于所说的玻璃微探针为经微电极拉制仪拉制而成的硼硅酸盐或石英微电极玻璃毛细管。
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