[实用新型]光斑位置测量仪有效
| 申请号： | 200920252327.2 | 申请日： | 2009-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN201583242U | 公开（公告）日： | 2010-09-15 |
| 发明（设计）人： | 陈日升;陈志理;张云兴;张志忠;张金玉 | 申请（专利权）人： | 核工业理化工程研究院华核新技术开发公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00 |
| 代理公司： | 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 | 代理人： | 胡恩河 |
| 地址： | 300384 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光斑 位置 测量仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种光斑位置测量仪，其特征在于：包括PSD探测器(1)，PSD探测器(1)的输出端与信号处理电路(2)的输入端连通，信号处理电路(2)的输出端和单片机(3)的输入端连通，单片机(3)的输出端通过USB接口(4)或485接口(5)和计算机(6)进行通讯。
2.根据权利要求1所述的光斑位置测量仪，其特征在于：所述的信号处理电路(2)包括电流/电压滤波转换电路(21)和电压放大电路(22)。
3.根据权利要求2所述的光斑位置测量仪，其特征在于：所述的电流/电压滤波转换电路(21)包括有四组相同、且相互独立的电流/电压转换电路(25)，每组设置有滤波和相位补偿电路。
4.根据权利要求2所述的光斑位置测量仪，其特征在于：所述的电压放大电路(22)包括有四组相同、且相互独立的电压放大器(26)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于核工业理化工程研究院华核新技术开发公司，未经核工业理化工程研究院华核新技术开发公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920252327.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
