[实用新型]发光二极管发光强度测试仪无效

专利信息
申请号: 200920256764.1 申请日: 2009-10-30
公开(公告)号: CN201540157U 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 周哲 申请(专利权)人: 周哲
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J1/04
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 何学成
地址: 213033 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 发光强度 测试仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测试仪,具体涉及发光二极管发光强度测试仪。

背景技术

测量发光二极管(LED)发光强度的测试仪,通常是将LED看作点光源,运用距离平方反比定律,在离被测量器件半径10-14倍距离处测量所产生的照度,再换算(定标)成发光强度的数值。这种光强测试仪只能测量光强分布近似余弦辐射体的被测LED,对于不是余弦辐射体的LED、指向性很强、光强空间分布不均匀和不对称的LED,用光度探测器测量得到的发光强度与被测面的照度之间不存在距离平方反比定律。另外,发光二极管管壳复杂图形实际上延伸了器件面积,因而在一定的距离范围内被测LED不能被看作点光源。此外,整个测试仪的调节性能差。

发明内容

针对上述技术问题,本实用新型的目的是提供一种便于在测试过程中进行调节的发光二极管发光强度测试仪。

实现本实用新型目的的技术方案如下:

发光二极管发光强度测试仪,基座上设有供光线通过的通孔,基座一侧设有与通孔连通的光度探测器,该光度探测器的输出端连接一个数显仪,基座的另一侧面设有水平延伸体,一个定位座设置于水平延伸体上,定位座上设有二极管插座,该插座的中心与基座上通孔的孔收正对,定位座上还设有与插座连接的旋转调节器,定位座的下部设有一个支撑体,该支撑体的端面为球面,该球面插入水平延伸体上设置的球面孔中形成活动连接于水平延伸体上,所述水平延伸体上设有连接于定位座两个侧面的挡板。

所述支撑体包括连接杆以及套筒,所述支撑体端部的球面位于连接杆的下端,连接杆的上端设置连接螺纹,连接杆与套筒螺纹连接。

所述旋转调节器包括手柄以及螺杆,螺杆一端与定位座螺纹连接后外伸出定位座且与手柄连接,螺杆另一端连接二极管插座。

采用了上述方案,定位座上还设有与插座连接的旋转调节器,通过旋转调节器,可以使连接发光二极管的插座形成360度转动,从而在测试过程中使发光二极管发生转动,以便于对发光二极管的平均发光强度进行检测。定位座的下部设有一个支撑体,该支撑体的端面为球面,该球面插入水平延伸体上设置的球面孔中形成活动连接于水平延伸体上,通过支撑体,可以使定位座形成转动,以便宜于在测试过程中对出现的差距进行校正。水平延伸体上设有连接于定位座两个侧面的挡板,通过挡板可以限制定位座朝着定位座的前侧或后侧转动,使定位座只能向上或向上动作,以便于在调整过程中促使二极管插座的中心线与基座上的孔心不会发生偏移。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

附图中,1为基座,1a为通孔,2为光度探测器,3为数显仪,4为水平延伸体,5为定位座,6为插座,7为旋转调节器,8为连接杆,9为套筒,10为挡板。

具体实施方式

参照图1,为本实用新型的发光二极管发光强度测试仪,基座1上设有供光线通过的通孔1a,基座一侧设有与通孔连通的光度探测器2,该光度探测器的输出端连接一个数显仪3,光度探测器将接收到的光电流信号转换成电压信号输出到数显仪3,数显仪3将这种电压信号显示出来,以表示发光二极管的光照强度。基座1的另一侧面设有水平延伸体4,一个定位座5设置于水平延伸体上,定位座上设有二极管插座6,该插座6的中心与基座上通孔的孔收正对。定位座5上还设有与插座连接的旋转调节器7,所述旋转调节器包括手柄以及螺杆,螺杆一端与定位座螺纹连接后外伸出定位座且与手柄连接,螺杆另一端连接二极管插座。定位座5的下部设有一个支撑体,该支撑体的端面为球面,该球面插入水平延伸体上设置的球面孔中形成活动连接于水平延伸体上。支撑体包括连接杆8以及套筒9,所述支撑体端部的球面位于连接杆的下端,连接杆的上端设置连接螺纹,连接杆与套筒螺纹连接。水平延伸体上设有连接于定位座两个侧面的挡板10,挡板限制定位座向其前侧或后侧方向转动。

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