[实用新型]并联式超声波检测探头

说明书

技术领域

本实用新型涉及超声波探伤领域，特别是一种并联式超声波检测探头。

背景技术

超声波探伤是无损检测的主要方法之一。它具有灵敏度高、穿透力强、检验速度快等一系列优点。因此，它已广泛应用于机械制造、冶金、电力等工业部门。

在自动化探伤中由于要求检测速度快，通常需要多组探头联合探伤，同时由于探头平行排列时各探头之间会存在检测盲区，这就要求在实际检测时各探头要成“品”字型摆放。这样的摆放要求不仅使探头个数增加，而且增加了机械装置的难度，提高了检测成本。因此在检测精度要求不高的情况下，提高检测效率和降低检测成本成为工业部门的主要选择。例如中国实用新型专利No.200520043060.8公开了一种超声波组合探头，名称为‘用于纵、横波联合探伤的超声波组合探头’，它包括外壳、晶片、阻尼吸收块、匹配线圈、斜楔、导线、电极，其中：晶片为一组纵波晶片和一组横波晶片，纵波晶片与组合探头的探测表面平行，横波晶片与组合探头的探测表面成一夹角，两组晶片一端通过导线分别连接匹配线圈，另一端分别与两组电极接线柱连接，两组晶片分别置于各自阻尼吸收块上，在两个阻尼吸收块间置有隔声层，阻尼吸收块、隔声层和匹配线圈置于壳体内，斜楔上装有电极接线柱。但是，该产品的两组晶片之间存在盲区，需要采用多个探头才能保证达到所需的检测效率。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种探头数量少、机械跟踪装置简单、检测成本低且检测效率高的并联式的超声波检测探头。为了达到上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种并联式超声波检测探头，包括外壳1、压电晶体2、阻尼吸收块4、隔声层5、匹配线圈、斜楔、导线6、电极7，压电晶体2为一组纵波晶片或一组横波晶片，其中：所述纵波晶片或横波晶片由多个并联的压电晶片3构成。

所述每个压电晶片3的同侧端通过导线6连接到各自的匹配线圈上，再通过导线6连接到一起接入仪器；每个压电晶片3的另一端与电极7的接线柱连接。

所述每个压电晶体2分别置于各自的阻尼吸收块4上，在两个阻尼吸收块4间置有隔声层5，斜楔上装有电极7的接线柱。

所述阻尼吸收块4、隔声层5和匹配线圈置于外壳1内。

所述一组纵波晶片或横波晶片含3～5个压电晶片3。

其中，同时工作的、输出超声波频率相等的同组压电晶片3安装在同一位置，一组压电晶片3连接一个通道。

所述压电晶片3与外壳1之间有保护层8。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

依据本实用新型实现的并联式的超声波检测探头，其主要优点是增加了单个探头的检测范围，使探测范围加大，基本上消除了晶片间的盲区。且其能极大的减少检测中的探头个数，简化机械跟踪装置，降低检测成本，提高检测效率。

附图说明

图1为并联式的超声波检测探头的示意图。

图2为压电晶体的示意图。

附图标记

1    外壳          2    压电晶体

3    压电晶片      4    阻尼吸收块

5    隔声层        6    导线

7    电极          8    保护层

具体实施方式

本实用新型为一种并联式的超声波检测探头，包括外壳1、压电晶体2、阻尼吸收块4、匹配线圈(图中未标)、斜楔(图中未标)、导线6、电极7、保护层8。其中，压电晶体2为一组纵波晶片(3～5个晶片)也可是一组横波晶片，纵波晶片与探头的探测表面平行，横波晶片与探头的探测表面成一夹角。压电晶体2中的每个压电晶片3的相同端通过导线6连接到各自的匹配线圈上，再通过导线6连接到一起接入仪器，另一端与电极7的接线柱连接。每个压电晶体2分别置于各自的阻尼吸收块4上，在两个阻尼吸收块4间置有隔声层5，阻尼吸收块4、隔声层5和匹配线圈置于外壳1内，斜楔上装有电极7的接线柱。本实用新型采用多个并联的同组压电晶片3在同一位置同时工作，一组压电晶片3占用一个通道，一次探伤即可完成通常几个通道才能完成的探伤检测，可明显缩短工件的探伤时间，提高探伤工作效率。

本实用新型设计的并联式的超声波检测探头，将其应用在钢板、钢管等工件的自动化检测上，可极大地提高检测效率，简化机械装置，降低检测成本。

本实用新型设计的并联式的超声波检测探头，其主要优点是增加了单个探头的检测范围，即一个并联式探头的检测效率相当于3～5个普通探头的检测效率。同时本探头使用时，各压电晶片3所输出的超声波频率相等，同时发射、同向接收，故相邻压电晶片3间的声波相互叠加得到加强，使探测范围加大，基本上消除了晶片间的盲区。其应用的结果是极大的减少了检测中的探头个数，简化了机械跟踪装置，降低检测成本，提高了检测效率。