[实用新型]用于元素分析仪的落样装置有效
申请号: | 200920318544.7 | 申请日: | 2009-12-25 |
公开(公告)号: | CN201575935U | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 任率 | 申请(专利权)人: | 湖南三德科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N1/02 | 分类号: | G01N1/02 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 赵洪;周长清 |
地址: | 410205*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 元素 分析 装置 | ||
1.一种用于元素分析仪的落样装置,包括样盘(1)、样盘旋转轴(2)、落样底盘(3)以及用来驱动样盘(1)转动的样盘旋转驱动机构(4),所述样盘(1)固定于样盘旋转轴(2)上,所述落样底盘(3)位于样盘(1)的底部,所述落样底盘(3)上开设有底盘落样口(301),其特征在于:所述样盘(1)的顶部设有遮挡装置。
2.根据权利要求1所述的用于元素分析仪的落样装置,其特征在于:所述遮挡装置为可转动并偏离样盘(1)正上方的旋盖(5),所述旋盖(5)的一端固定于旋盖旋转轴(6)上。
3.根据权利要求2所述的用于元素分析仪的落样装置,其特征在于:所述旋盖(5)的直径大于样盘(1)的直径。
4.根据权利要求2所述的用于元素分析仪的落样装置,其特征在于:所述旋盖(5)为透明盖。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的用于元素分析仪的落样装置,其特征在于:所述样盘旋转驱动机构(4)直接与样盘旋转轴(2)相连,或者样盘旋转驱动机构(4)直接与样盘(1)相连。
6.根据权利要求1或2或3或4所述的用于元素分析仪的落样装置,其特征在于:所述样盘(1)上设有与盛样槽(101)位置对应的样盘刻度盘(102)。
7.根据权利要求5所述的用于元素分析仪的落样装置,其特征在于:所述样盘(1)上设有与盛样槽(101)位置对应的样盘刻度盘(102)。
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