[实用新型]导电弹性体体电阻测试装置无效

专利信息
申请号: 200920319385.2 申请日: 2009-12-31
公开(公告)号: CN201607489U 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 邱扬;杜建华 申请(专利权)人: 西安开容电子技术有限责任公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 鲍燕平
地址: 710075 陕西省西安市高新区锦业路69*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 导电 弹性体 电阻 测试 装置
【权利要求书】:

1.导电弹性体体电阻测试装置,其特征是:包括测试装置上部分(2)、测试装置下部分(3),测试装置上部分(2)和测试装置下部分(3)通过连接柱(10)连接。

2.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置,其特征是:所述的测试装置上部分(2)包括铜镀镍上壳体、上铜质导电体(4)、上亚克力绝缘材料(71),铜镀镍上壳体下端有U型腔,U型腔内固定与U型腔相同形状的上亚克力绝缘材料(71),上亚克力绝缘材料(71)前后各固定有一长方体上铜质导电体(4);前后上铜质导电体(4)表面有长方形测量凹槽(6);铜镀镍上壳体四周有连接连接柱(10)的四个凹槽。

3.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置,其特征是:所述的测试装置下部分(3)包括铜镀镍下壳体、下铜质导电体(5)、下亚克力绝缘材料(72),铜镀镍下壳体上端有U型腔,U型腔内固定与U型腔相同形状的下亚克力绝缘材料(72),下亚克力绝缘材料(72)前后各固定有一长方体下铜质导电体(5);前后长方体上铜质导电体(5)表面有长方形测量凹槽(6);铜镀镍下壳体四周连接连接柱(10),铜镀镍上壳体四周的四个凹槽与铜镀镍下壳体四周连接的连接柱(10)固定。

4.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置,其特征是:所述的测试装置上部分(2)连接上测试电缆(8),测试装置下部分(3)连接下测试电缆(9),上测试电缆(8)和下测试电缆(9)在相反的方向上。

5.根据权利要求1所述的导电弹性体体电阻测试装置,其特征是:所述的上铜质导电体(4)和下铜质导电体(5)上加工φ4mm测试孔,上、下铜制导电体表面进行镀银处理以减少接触电阻,其电阻小于0.01Ω。

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