[发明专利]用于序向单元的贴近布局的方法和设备有效

专利信息
申请号: 200980000170.7 申请日: 2009-07-29
公开(公告)号: CN101796520A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 侯文婷;P-H·霍 申请(专利权)人: 新思科技有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 单元 贴近 布局 方法 设备
【说明书】:

技术领域

本技术涉及合成集成电路和序向单元(sequential cell),目的是 改进功率/时序性能。

背景技术

集成电路设计流程通常要历经下面的阶段:

产品思想、EDA软件、流片试产(tapeout)、制造设备、封装/组装 和芯片。EDA软件阶段包括下表所示出的步骤:

  EDA步骤   发生了什么   系统设计   -描述要实现的功能   -假设(what-if)规划的话   -硬件/软件架构划分   逻辑设计和功能验证   -写系统中模块的VHDL/Verilog   -针对功能的精确度检查设计,设   计产生正确的输出吗?   针对测试的合成和设计   -将VHDL/Verilog转换成网表   -针对目标技术优化网表   -设计和实施测试以允许检查完   成的芯片   设计规划   -构建用于芯片的整体布图规划   -分析上述过程,针对高层布线进   行时序检查   网表验证   检查网表以便符合时序限制和   VHDL/Verilog

  物理实现   -布局(定位电路元件)和布线(连   接电路元件)   分析和抽取   -验证晶体管级的电路功能,考虑   假设精炼   物理验证(DRC、LRC、LVS)   -各种检查功能:制造、电的、光   刻、电路正确性   分辨率增强(OPC、PSM、辅助)   -几何处理以改进可制造性   掩模数据制备   数据的流片试产以便生产用于光   刻用途的掩模   生产完成的芯片

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新思科技有限公司,未经新思科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980000170.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top