[发明专利]用于可配置扫描架构的测试设计优化器

权利要求书

1.一种用于为集成电路设计形成基于扫描的测试设计的方法， 包括以下步骤：

为电路设计形成多个候选测试设计，其中包括根据电路设计来 生成多个测试矢量；

为每一个候选测试设计生成一个测试协议品质因数；以及

根据对为每一个候选测试设计生成的测试协议品质因数的比较 来选择其中一个候选测试设计，以便在集成电路器件中实施，

其中生成多个测试矢量的步骤使用了预定的自动测试模式生成 算法，

其中为每一个候选测试设计生成测试协议品质因数的步骤包括 以下步骤：仅使用如果预定的自动测试模式生成算法运行至结束将 会生成的测试矢量的采样来确定用于每一个特定的候选测试设计的 测试协议品质因数。

2.根据权利要求1的方法，其中所述多个候选测试设计包括电 路设计的状态寄存器到扫描链的不同排列。

3.根据权利要求1的方法，其中所述多个候选测试设计包括将 器件扫描输入引脚互连到扫描链输入的不同解压缩电路。

4.根据权利要求1的方法，其中所述多个候选测试设计包括将 扫描链输出互连到器件扫描输出引脚的不同压缩电路。

5.根据权利要求1的方法，其中所述多个候选测试设计包括用 于控制所述自动测试模式生成算法操作的不同配置参数值。

6.根据权利要求1的方法，还包括以下步骤：将电路设计以及 至少扫描链排列和解压缩器排列并入到组合设计中，其中所述扫描 链排列和解压缩器排列来自在选择步骤中选择的候选测试设计；以 及

根据组合设计来将所述预定的自动测试模式生成算法运行至结 束。

7.根据权利要求1的方法，还包括以下步骤：根据在选择步骤 中选择的候选测试设计，将预定的自动测试模式生成算法运行至结 束。

8.根据权利要求7的方法，其中运行预定的自动测试模式生成 算法至结束的步骤生成多个测试矢量，

还包括以下步骤：向集成电路测试设备提供多个测试矢量，以 便在测试依照电路设计和在选择步骤中选择的候选测试设计制造的 集成电路芯片中使用。

9.根据权利要求7的方法，其中所述多个候选测试设计包括用 于控制自动测试模式生成算法操作的不同配置参数值，

以及其中运行预定的自动测试模式生成算法至结束的步骤包括 以下步骤：在选择步骤选定的候选测试设计中应用所述配置参数值。

10.根据权利要求1的方法，还包括以下步骤：根据电路设计 以及在选择步骤中选定的候选测试设计来生成一组制造屏蔽。

11.根据权利要求1的方法，其中测试矢量采样至多包含256 个测试矢量。

12.根据权利要求11的方法，其中测试矢量采样包含的测试矢 量超过32个。

13.根据权利要求1的方法，其中测试矢量采样至多包含64个 测试矢量。

14.根据权利要求1的方法，其中预定的自动测试模式生成算 法按顺序生成测试模式，

其中测试矢量采样只包括预定的自动测试模式生成算法生成的 前N个测试矢量，其中N是预定整数，其对多个候选测试设计中的 所有候选测试设计来说都是固定的。

15.根据权利要求14的方法，其中生成多个测试矢量的步骤包 括以下步骤：操作所述预定的自动测试模式生成算法，直至生成N 个测试矢量；以及

在生成任何进一步的测试矢量之前，停止执行所述预定的自动 测试模式生成算法。

16.根据权利要求1的方法，其中测试协议的品质因数是测试 协议质量量度。

17.根据权利要求1的方法，其中测试协议品质因数是故障覆 盖率。