[发明专利]复眼照相机模块有效
申请号: | 200980000235.8 | 申请日: | 2009-02-18 |
公开(公告)号: | CN101682692A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 玉木悟史;末永辰敏 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;G03B19/07;G03B17/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复眼 照相机 模块 | ||
技术领域
本发明涉及照相机模块。尤其涉及采用光轴互不相同的多个透镜来拍 摄被摄体的复眼方式的照相机模块。
背景技术
在数字电视或数字照相机这样的摄像装置中,经由透镜在 CCD(Charge Coupled Device)及CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)等摄像元件上使被摄体像成像,由此将被摄体像变换为2 维的图像信息。此外还提出了测量到达被摄体的距离的照相机。
参照图16以及图17,对专利文献1所公开的测量到达被摄体的距离 的复眼方式照相机模块的一例进行说明。图16是复眼照相机模块的分解 立体图,图17是其剖视图。
从被摄体侧开始顺次有光圈部件1121、透镜阵列1122、遮光块1123、 光学滤镜阵列1124、半导体基板1125。在半导体基板1125上形成有摄像 区域1126,并且还形成有驱动电路1127以及信号处理电路1128。透镜阵 列1122具有多个透镜。光圈部件1121在与透镜阵列1122的各个透镜的 光轴一致的位置上分别具有光圈(开口)。光学滤镜阵列1124在与透镜阵列 1122的各个透镜对应的每个区域内具有多个光学滤镜。光学滤镜阵列1124 由分光特性不同的多种光学滤镜构成,与摄像区域1126隔着空隙进行对 置。遮光块1123在与透镜阵列1122的相邻透镜间的边界、即光学滤镜阵 列1124的相邻光学滤镜间的边界一致的位置上具有遮光壁1123a。
在这样构成的复眼照相机模块中,获得有视差的多个图像,根据该视 差图像来算出视差量,根据视差量来算出到达被摄体的距离。
【专利文献1】日本特开2003-143459号公报
但是具有如下的问题:在上述复眼照相机模块中,如图17所示,不 要的入射光(不要光)1172在遮光块1123的内壁及光学滤镜阵列1124的端 面反射,且作为重影映射到摄像区域1126,从而导致测距精度明显降低。
发明内容
本发明提供一种小型、薄型的基线长度短且测距精度高的复眼照相机 模块。
本发明的复眼照相机模块的特征是具备:透镜阵列,其具有光轴互不 相同、且配置在同一平面上的至少两个透镜;摄像元件,其具有与上述两 个透镜分别一一对应的两个摄像区域;遮光块,其配置在上述透镜阵列与 上述摄像元件之间,并设有分离分别透过上述两个透镜的光的光路的遮光 壁;光学滤镜,其配置在上述遮光块与上述摄像元件之间,并使已透过上 述两个透镜的光中的特定波长频带光透过;以及基板,去具有比上述光学 滤镜大的开口部,上述摄像区域以及上述光学滤镜处于与上述开口部对应 的位置,上述摄像元件被固定在上述基板中的与上述透镜阵列侧相反侧的 面上,上述摄像元件和上述光学滤镜中的与上述摄像元件对置的面接触, 上述遮光块被固定在上述光学滤镜中的与上述遮光块对置的面上,在连接 上述两个透镜的两个光轴的方向上,上述光学滤镜具有在上述摄像元件两 端部的外侧露出的部分,上述遮光块被固定在上述光学滤镜的上述露出的 部分。
根据某实施方式,在与连接上述两个光轴的方向正交的方向上,上述 摄像元件具有在上述开口部的两端部的外侧露出的部分,固定上述摄像元 件的上述露出的部分和上述基板。
根据某实施方式,上述摄像元件具有用于与上述基板电连接的端子, 上述摄像区域和上述端子位于上述摄像元件的同面侧。
根据某实施方式,设有上述遮光壁的范围中的上述遮光块的内壁,在 连接上述两个光轴的方向上,位于上述摄像元件两端部的外侧。
根据某实施方式,上述两个透镜行相对于上述遮光块定位。
根据某实施方式,上述光学滤镜中的与上述摄像元件对置的面和上述 摄像元件的摄像面接触。
根据某实施方式,上述摄像元件在上述摄像元件的外周部中与上述基 板以及上述光学滤镜粘接,上述光学滤镜在上述光学滤镜的外周部中与上 述基板粘接。
根据某实施方式,上述摄像元件在上述摄像元件的外周部中与上述基 板以及上述光学滤镜粘接,上述开口部的形状与上述光学滤镜的外形实质 上相同,上述光学滤镜的至少一部分位于上述开口部内。
(发明效果)
根据本发明,可使遮光块的内壁以及光学滤镜的端面从摄像区域分 离,所以能够防止不要光入射到摄像区域。由此,能够抑制测距运算结果 的误差,从而提高测距精度。
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