[发明专利]完全超耐性、非常高扫描压缩扫描测试系统及技术

权利要求书

1.一种用于测试一设计的扫描测试系统，所述的设计于一集成电路(IC) 中实施，所述的设计包含多个扫描链，所述的系统包含：

一第一伪随机型样产生器(PRPG)处理链，用以接收一第一种子，以产 生用于鉴定所述的设计的故障的型样，所述的型样应用于所述的多个扫描链；

一第二PRPG处理链，用以接收一第二种子，以产生X-耐性(XTOL) 控制位元，所述的XTOL控制位元决定所述的扫描链的一可观察性层级；以 及

一卸载区块，用以接收来自所述的多个扫描链的扫描输出以及所述的 XTOL控制位元、提供一每位移的X-控制、以及产生测试输出以用于分析所 述的设计；以及

可寻址的PRPG影子，所述可寻址的PRPG影子被配置用于接收来自测 试器的输入以及选择性地提供下列其中之一：提供所述第一种子至所述的第 一PRPG处理链以及所述第二种子至所述的第二PRPG处理链。

2.如权利要求1所述的扫描测试系统，其中，所述的第一PRPG处理链 包含：

一关注PRPG，用以接收所述的第一种子；以及

一关注移相器，用以接收所述的关注PRPG的输出，以及提供输出至所 述的多个扫描链。

3.如权利要求2所述的扫描测试系统，其中，所述系统还包含一关注影 子暂存器，其接收来自所述的关注PRPG的输入以及提供输出至所述的关注 移相器。

4.如权利要求3所述的扫描测试系统，其中：

所述的关注PRPG提供一功率控制信号，所述的功率控制信号使所述的 关注影子暂存器处于一保持模式，使得固定值被位移至所述的多个扫描链中， 以减低位移功率。

5.如权利要求4所述的扫描测试系统，其中，所述的第二PRPG处理链 包含：

一XTOL PRPG，用以接收所述的第二种子；

一XTOL移相器，用以接收所述的XTOL PRPG的输出；以及

一XTOL影子暂存器，用以接收所述的XTOL移相器的输出以及提供所 述的XTOL控制位元。

6.如权利要求5所述的扫描测试系统，其中：

所述的XTOL PRPG被配置成用以产生一保持信号，所述的保持信号使 所述的XTOL影子暂存器处于一保持模式。

7.如权利要求6所述的扫描测试系统，其中：

所述的关注PRPG以及所述的XTOL PRPG被配置成当需要时在任何位 移周期进行再播种。

8.如权利要求1所述的扫描测试系统，其中：

所述的关注PRPG及所述的XTOL PRPG被配置成当需要时在任何位移 周期进行再播种。

9.如权利要求8所述的扫描测试系统，其中，所述的卸载区块包含：

一XTOL选择器，用以接收所述的扫描输出；

一X-解码器，用以使用所述的XTOL控制位元来控制所述的XTOL选择 器；

一压缩器，用以接收所述的XTOL选择器的输出；以及

一多输入移位暂存器(MISR)，用以接收所述的压缩器的输出以及产生 所述的测试输出。

10.如权利要求9所述的扫描测试系统，其中：

所述的XTOL选择器以及所述的X-解码器被配置用以提供一完全可观察 性模式、一无可观察性模式、一单链模式以及一多重可观察性模式的其中之

11.如权利要求10所述的扫描测试系统，其中：

所述的X-解码器包含一解码区块，所述的解码区块具有与所述的多个扫 描链的每一个扫描链连接的输出。

12.如权利要求11所述的扫描测试系统，其中：

用于一特定扫描链的所述的解码区块接收群组的一集合，所述的特定扫 描链是所述的群组中的一员。

13.如权利要求6所述的扫描测试系统，其中：

所述的卸载区块进一步由一XTOL赋能位元所控制，所述的XTOL赋能 位元由所述的PRPG影子暂存器所产生。