[发明专利]光频域反射测定方式的物理量测量装置及使用其的温度和应变的测量方法

权利要求书

1.一种光频域反射测定方式的物理量测量装置，其特征在于，

具备：

射出测定光的可调谐激光器；

一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤；

与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器；

一端与该保偏耦合器连接、另一端为参照用反射端的第二保偏光 纤；

一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤；

形成于该第三保偏光纤的纤芯上的由光纤布拉格光栅构成的传感 器；

一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤；

发光二极管，其经由该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接，检测 来自所述传感器的正交的2个偏振轴的布拉格反射光和来自所述参照用 反射端的参照光；

控制部，其基于由该发光二极管检测出的所述布拉格反射光和所述 参照光的合波光强度变化，来检测所述布拉格反射光及所述参照光间的 干涉光的强度调制；

入射部α，其向所述第二保偏光纤的正交的2个偏振轴及所述第三 保偏光纤的正交的2个偏振轴双方，射入所述测定光，

所述入射部α配置于所述第一保偏光纤中或配置于所述第二保偏 光纤和所述第三保偏光纤双方中。

2.根据权利要求1所述的光频域反射测定方式的物理量测量装置， 其特征在于，

在该入射部α配置于所述第一保偏光纤中的情况下，所述入射部 α，是于该第一保偏光纤上，以具有45°的偏振轴偏斜角度形成的熔接 连接部；

在所述入射部α配置于所述第二保偏光纤及所述第三保偏光纤双 方中的情况下，所述入射部α，是分别具有45°的偏振轴偏斜角度，形 成于所述第二保偏光纤及所述第三保偏光纤上的熔接连接部。

3.根据权利要求1或2所述的光频域反射测定方式的物理量测量装 置，其特征在于，在所述第四保偏光纤上，还配置有将来自所述传感器 正交的2个偏振轴的所述布拉格反射光分波的偏振波束分裂器。

4.根据权利要求1或2所述的光频域反射测定方式的物理量测量装 置，其特征在于，在所述第三保偏光纤的在所述传感器与所述保偏耦合 器之间还配置有延长光纤，该延长光纤用于使来自所述传感器的正交的 2个偏振轴的布拉格反射光的光路长度差大于与所述传感器的长度相当 的光路长度。

5.根据权利要求4所述的光频域反射测定方式的物理量测量装置， 其特征在于，在将所述延长光纤的长度设为L₁，将所述第三保偏光纤中 的正交的2个偏振轴的有效折射率的差设为(n_slow-n_fast)，将所述传感器 的长度设为l的情况下，所述L₁满足下式(1)，其中，n_slow表示慢轴的 有效折射率，n_fast表示快轴的有效折射率。

L1>nslowlnslow-nfast---(1)]]>

6.根据权利要求1所述的光频域反射测定方式的物理量测量装置， 其特征在于，取代所述入射部α，还具备向所述第三保偏光纤的正交的 2个偏振轴中的任意一方的偏振轴射入测定光的入射部β。

7.根据权利要求1或2所述的光频域反射测定方式的物理量测量装 置，其特征在于，所述第一保偏光纤到所述第四保偏光纤中，至少所述 第三保偏光纤中的正交的2个偏振轴的有效折射率差为4.4×10^-4以上。