[发明专利]用于邻近探测的电极系统和具有电极系统的手持装置有效

专利信息
申请号: 200980000516.3 申请日: 2009-04-16
公开(公告)号: CN101849217A 公开(公告)日: 2010-09-29
发明(设计)人: R·昂特赖特迈耶;S·多纳特 申请(专利权)人: 艾登特科技股份公司
主分类号: G06F3/033 分类号: G06F3/033;H03K17/96
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;蒋骏
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 邻近 探测 电极 系统 具有 手持 装置
【权利要求书】:

1.电气手持装置,其可放置在表面(A)上,该电气手持装置包括至少一个发射电极(TE)、接收电极(RE)及布置在发射电极(TE)与接收电极(RE)之间的补偿电极(CE),采用所述电极可以探测手接近(D1、D2)手持装置,

-其中,能从发射电极(TE)辐射第一交变电场(AS),并且从补偿电极(CE)辐射第二交变电场(AK),其中,第一交变电场(AS)相对于第二交变电场(AK)被相位延迟,并且其中,所述交变电场(AS、AK)能耦合到表面(A)中并且耦合到接收电极(RE)中,

-其中,耦合到接收电极(RE)的交变电场(AS、AK)在接收电极(RE)中产生电流(I),该电流表示手接近(D1、D2)手持装置,

-其中,手持装置上的发射电极(TE)和接收电极(RE)以下述方式布置,所述方式为:当手持装置放置在表面(A)上时,发射电极(TE)与接收电极(RE)之间的阻抗的和超过预定值(Z0),其适于将在接收电极(RE)中产生的电流(I)保持在预定值(I0)以下;所述阻抗由下列阻抗组成:

-发射电极(TE)与表面(A)之间的阻抗,

-表面(A)的阻抗,及

-表面(A)与接收电极(RE)之间的阻抗。

2.电气手持装置,其可放置在表面(A)上,该电气手持装置包括多个电极结构(ES1、ES2),每个电极结构包括至少一个发射电极(TE)、至少一个接收电极(RE)、及布置在发射电极(TE)与接收电极(RE)之间的至少一个补偿电极(CE),其中采用多个电极结构(ES1、ES2)中的每一个电极结构,可以探测手接近手持装置,其中,多个电极结构(ES1、ES2)中的每一个以下述方式形成,所述方式为:

-能从发射电极(TE)辐射第一交变电场(AS),并且从补偿电极(CE)辐射第二交变电场(AK),其中,第一交变电场(AS)相对于第二交变电场(AK)被相位延迟,并且其中,交变电场(AS、AK)能耦合到表面(A)中并且耦合到接收电极(RE)中,

-耦合到接收电极(RE)中的交变电场(AS、AK)在接收电极(RE)中产生电流(I),该电流(I)表示手接近手持装置上的电极结构(ES1、ES2),及

-在手持装置处的发射电极(TE)和接收电极(RE)以下述方式布置,所述方式为:当手持装置放置在表面(A)上时,发射电极(TE)与接收电极(RE)之间的阻抗的和超过预定值(Z0),其适于将在接收电极(RE)中产生的电流(I)保持在预定值(I0)以下;所述阻抗由下列阻抗组成:

-发射电极(TE)与表面(A)之间的阻抗,

-表面(A)的阻抗,及

-表面(A)与接收电极(RE)之间的阻抗。

3.根据权利要求2所述的手持装置,其中,多个电极结构(ES1、ES2)与电子评估装置相耦合,并且其中电子评估装置被形成为相继评估手对于多个电极结构(ES1、ES2)中的每一个的接近。

4.根据权利要求2所述的手持装置,其中,多个电极结构(ES1、ES2)中的每一个分别与电子评估装置相耦合,并且其中每个电子评估装置以这样的方式形成,以便评估手对于相应耦合的电极结构(ES1、ES2)的接近。

5.根据在前权利要求之一所述的手持装置,其中,多个电极结构(ES1、ES2)中的每一个的发射电极(TE)、补偿电极(CE)及接收电极(RE)以下述方式布置在手持装置处,所述方式为:当手持装置放置在表面(A)上时它们不触及表面。

6.根据权利要求5所述的手持装置,其中,多个电极结构(ES1、ES2)中的每一个的发射电极(TE)、补偿电极(CE)及接收电极(RE)布置在手持装置的表面上。

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