[发明专利]接触插座

说明书

技术领域

本发明涉及一种接触弹簧和一种接触插座。

背景技术

这种类型的接触插座具有多个接触弹簧，在该接触弹簧上放置尤其是带有集成电路(ICs)的半导体结构元件的电子结构元件的管脚(小支腿)，以使得提供到电子装置的电连接，接触插座与该电子装置相连接。在这种电子装置中能够尤其是涉及带有电子计算装置的测试装置，在结构元件安装在电路板或者其它基板上前借助于该测试装置来测试结构元件的性能。在此，接触插座通常固定在设在测试者一侧的板状的接触插座支座上，与此同时电子结构元件借助于自动传送装置(操作者)供应，抵抗着接触插座的接触弹簧被压紧并且在测试过程后再次从接触插座移除，以便根据测试结果对结构元件进行分类。

如图8和9所示，在已知的接触插座中使用接触弹簧1，该接触弹簧1具有带有斜顶的尖端和在横向延伸的接触边2。此外，在图8中示出电子结构元件(IC)的管脚3的端部部分。如果将电子结构元件并且因此将所述结构元件的管脚3在示出进给方向的箭头4的方向上放置在接触弹簧的相关联的接触边2上，接触边2在其整个长度上紧靠着管脚3。然而示出，在这种弹簧尖端或者接触边中在较长的使用时间后且相应于多次接触后形成沉积物，该沉积物导致接触边2和管脚3之间的接触电阻大大地增加。这尤其是发生在以下情况，即放弃在组成管脚镀层的合金中使用铅。从环境的观点来看更经常使用比前合金更软的锡用于所述管脚镀层。这看来促进了沉积物5的形成。因此，通过多次接触不再可以保证具有接触弹簧1和管脚3之间的较小接触电阻的毫无问题的接触。

EP 1 826 575 A1公开了一种用在测试设备中的接触元件，该接触元件能够安装在测试装置的负载板上：接触元件至少用于在负载板上接触带有相应的印制导线的待测试的结构元件的至少一个连接部并且具有第一端部，该第一端部限定了多个接触点。在接触元件绕通常垂直于由接触元件限定的平面的轴线旋转时，连续地接触待测试的结构元件的连续相邻的接触点。

US 5,599,194公开了一种接触管脚，该接触管脚具有薄的壁构造并且建立了与集成电路-插座的良好的电连接，若没有该接触管脚的话由于连接部的表面上的氧化层而形成绝缘。此外，接触管脚由于塑性变形而不容易折断。

US 5,461,258公开了一种用于半导体结构元件的插座，该插座防止外部材料粘在半导体结构元件的外部连接部的固定表面上。

US 2008/0094090 A1公布了一种用于具有窄的间隔的插座的测试头，而不必进行清洁。这通过以下方式达到，即提供以弹性的方式在垂直方向上变形的z变形区域和z变形区域，所述z变形区域以连续的方式连接于z变形区域并且进行旋转，与此同时弹性变形至少发生在垂直方向上。

发明内容

因此，本发明的目的是提供接触弹簧和一种具有接触弹簧的接触插座，该接触弹簧经过多次接触后具有接触弹簧和结构元件的管脚之间的尽可能不变的低接触电阻，这与用于管脚的镀层的金属或者金属合金无关。

所述目的通过根据权利要求1的特征的接触弹簧实现并且通过根据权利要求15的特征的接触插座实现。其它的权利要求描述了本发明的有利的实施形式。

接触插座具有多个接触弹簧以用于接触电子结构元件，尤其是集成电路，其中接触弹簧分别具有长形的弹簧臂，该弹簧臂在其自由端部上具有长形的接触边，在该接触边上能够放置结构元件的管脚，其中由于结构元件在进给方向上的运动使得弹簧臂能够在预定的弯曲平面中移动，其特征在于，接触边的纵向中心平面设置为平行于弹簧臂的弯曲平面并且弹簧臂如此构成，使得在压紧管脚的情况下接触边在偏离于结构元件的进给方向的方向上如此移动，使得接触边沿着管脚移动。

根据本发明，接触边的纵向中心平面设置为平行于弹簧臂的弯曲平面。在此，术语“平行”包括达+/-30°，达+/-20°和达+/-10°的角度以及尤其是还包括以下的优选情况，即接触边的纵向中心平面位于弹簧臂的弯曲平面中，即+/-0°，也就是说与弯曲平面重合。此外，弹簧臂如此构成，使得在压紧管脚的情况下接触边在偏离于结构元件的进给方向的方向上如此移动，使得接触边沿着管脚移动。

还示出，在根据本发明的接触弹簧中产生更少的沉积物并且接触弹簧和管脚之间的接触电阻在多次接触后还保持为低的。

根据一个有利的实施形式，接触边设置在弹簧臂的自由端部的中央。

根据另一个有利的实施形式，接触边至少在其长度的一部分上以凸起的方式，尤其是以圆弧形的方式弯曲。

在此可替代地还可能的是，接触边沿着其长度为波浪形的。

根据另一个有利的实施形式，接触边的宽度在纵向上看来在其中间区域内比在其端部区域内更窄。