[发明专利]用于控制扫描路径的动态修改的设备和方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子领域，更具体而言，涉及印刷电路板、片上系统和系统的测试。

背景技术

联合测试行动组(JTAG)是指用于使用边界扫描来测试印刷电路板的测试访问端口的IEEE 1149标准。自动测试生成(ATG)工具使用JTAG来测试印刷电路板。现在正在对工具JTAG(IJTAG)标准化(称为IEEE P1687标准)，以克服现有的与从电路板级JTAG到芯片级JTAG的改变相关联的JTAG局限性。IJTAG建议在使用动态等级单元(例如称为选择工具位(SIB)单元的单元)的数据寄存器内包括动态等级路径。使用动态等级路径允许根据需要来接通或断开扫描路径的各个部分。因此，通过使用诸如SIB等单元而使能的动态等级路径是很有价值的测试资源，因为扫描路径中的元件数量对于确定测试时间而言是很重要的，小心地使用等级可以用来减少测试时间。

如所建议的IEEE P1687标准中描述的那样，扫描链是线性扫描链，插入扫描链的每个SIB单元被插入以将等级引入扫描链。因此，由于扫描链是线性的，线性扫描链中包括的每个SIB单元必须经由扫描链而被线性访问以激活扫描链中的等级，因此扫描链的长度直接决定了修改和实现活动等级所需的访问时间量。虽然在扫描链仅包括几个单元的示例中，该限制可能显得无关紧要，但是在扫描链可能包括几百甚至几千个单元的实际系统中，这可能成为一个关键限制。虽然可以通过使用测试过程的精确调度来减小该问题的影响，但是简单地通过使用测试过程的调度并不能完全避免该问题。

发明内容

通过用于使用片上系统的独立的控制扫描路径来控制片上系统的测试扫描路径的设备和相关联的方法，来解决现有技术的诸多缺陷。

在一个实施例中，一种设备包括：测试扫描路径，具有包括至少一个等级使能测试组件的多个测试组件；和控制扫描路径，包括与测试扫描路径的所述至少一个等级使能测试组件耦接的至少一个控制组件，其中所述至少一个控制组件适用于以动态修改测试扫描路径的方式来控制所述至少一个等级使能测试组件。

在一个实施例中，一种设备包括：测试扫描路径，具有多个非等级使能测试组件和至少一个等级使能组件；和控制扫描路径，包括所述至少一个等级使能组件，其中所述至少一个等级使能组件适用于使用控制扫描路径来动态修改测试扫描路径。

在一个实施例中，一种方法包括：将测试比特流施加到片上系统的测试扫描路径，其中测试扫描路径支持等级；和将控制比特流施加到片上系统的控制扫描路径，其中控制比特流适用于动态修改测试扫描路径的等级。

附图说明

通过结合附图考虑以下的详细说明，可以容易理解本发明的教导，其中：

图1图示了测试环境的高级框图；

图2图示了适于在图1的测试环境中使用的示例性片上系统的高级框图；

图3图示了示例性片上系统的高级框图，该片上系统具有包括由等级使能组件控制的两个等级级别的等级扫描路径；

图4图示了片上系统的高级框图，该片上系统包括适用于动态修改片上系统的扫描路径的等级使能组件；

图5图示了等级片上系统的高级框图，该等级片上系统包括测试控制器和等级测试扫描路径；

图6图示了片上系统的高级框图，该片上系统包括使用独立的物理组件实现的测试扫描路径和控制扫描路径；

图7图示了等级使能测试组件和等级控制组件的高级框图，所述等级使能测试组件和等级控制组件适于在图6的片上系统的测试扫描路径和控制扫描路径中使用；

图8图示了片上系统的高级框图，该片上系统包括使用组合的物理组件实现的测试扫描路径和控制扫描路径；

图9图示了等级使能组件的高级框图，该等级使能组件适于支持图8的片上系统的测试扫描路径和控制扫描路径；

图10图示了使用独立的测试和控制扫描路径来测试片上系统的方法的一个实施例；

图11图示了使用独立的测试和控制扫描路径来测试片上系统的示例性方法；

图12图示了测试环境的高级框图，其中使用测试系统来测试两个片上系统；

图13图示了测试环境的高级框图，其中使用测试系统来测试其上嵌入有片上系统的片上系统；

图14图示了测试环境的高级框图，其中使用测试系统来测试片上系统，该片上系统嵌入有包括嵌入式片上系统的片上系统；

图15图示了图5的片上系统的高级框图，其中将片上系统嵌入等级级别之一中；以及

图16图示了适用于执行本文描述的功能的通用计算机的高级框图。

为了便于理解，尽可能使用相同的附图标记来指示各附图中共有的相同部分。

具体实施方式