[发明专利]太阳能电池及太阳能电池的制造方法无效
申请号: | 200980105830.8 | 申请日: | 2009-02-16 |
公开(公告)号: | CN101946335A | 公开(公告)日: | 2011-01-12 |
发明(设计)人: | 十楚博行;高本达也 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/042 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 岳雪兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 制造 方法 | ||
1.一种太阳能电池,其特征在于,
包括背面电极层(5)、形成于所述背面电极层(5)表面上的半导体层(3)及形成于所述半导体层(3)表面上的表面电极层(7),
在所述背面电极层(5)的与形成有所述半导体层(3)的一侧相反的一侧的表面上具有支承层(8),
所述半导体层(3)包含至少一个pn结,
所述太阳能电池具有多个将支承层开口部(6c)和半导体层开口部(6b)连接的作为空洞的通孔(16),该支承层开口部(6c)形成于所述支承层(8)的与形成有所述背面电极层(5)的一侧相反的一侧的表面,该半导体层开口部(6b)形成于所述半导体层(3)的与形成有所述背面电极层(5)的一侧相反的一侧的表面,
所述表面电极层(7)形成在未形成有所述半导体层开口部(6b)的区域上。
2.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
所述通孔(16)的内壁面由所述支承层(8)覆盖。
3.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
所述半导体层开口部(6b)的最大孔径为15μm以下。
4.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
相邻的所述半导体层开口部(6b)之间的最短距离为200μm以下。
5.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
所述半导体层(3)的厚度为20μm以下。
6.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
所述半导体层(3)含有GaAs类化合物半导体层和GaP类化合物半导体层中的至少一个。
7.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
所述半导体层开口部(6b)的开口面积的总和为所述半导体层(3)的形成有所述半导体层开口部(6b)的表面中的受光面积的1%以下。
8.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,
所述支承层(8)由有机化合物构成。
9.如权利要求8所述的太阳能电池,其特征在于,
所述有机化合物是聚酰亚胺。
10.一种太阳能电池的制造方法,制造权利要求1所述的太阳能电池,该制造方法的特征在于,包含:
在半导体基板(1)上形成蚀刻层(2)的工序;
在所述蚀刻层(2)上形成所述半导体层(3)的工序;
在所述半导体层(3)上形成所述背面电极层(5)的工序,该背面电极层(5)具有沿厚度方向贯通的第一蚀刻用孔(6);
在所述背面电极层(5)上形成所述支承层(8)的工序,该支承层(8)具有沿厚度方向贯通并与所述第一蚀刻用孔(6)连接的第二蚀刻用孔(26);
通过从所述第一蚀刻用孔(6)和所述第二蚀刻用孔(26)蚀刻所述半导体层(3)使所述蚀刻层(2)的表面露出,以形成所述通孔(16)的工序;
至少从所述通孔(16)蚀刻所述蚀刻层(2)以使所述半导体层(3)和所述半导体基板(1)分离的工序;
在所述半导体层(3)表面的未形成有所述半导体层开口部(6b)的区域形成所述表面电极层(7)的工序。
11.如权利要求10所述的太阳能电池的制造方法,其特征在于,
所述半导体基板(1)包含从Si、Ge、GaAs类化合物半导体和GaP类化合物半导体中选择的至少一种。
12.如权利要求10所述的太阳能电池的制造方法,其特征在于,
所述蚀刻层(2)包含AlAs类化合物半导体层和GaInP类化合物半导体层中的至少一个。
13.如权利要求10所述的太阳能电池的制造方法,其特征在于,
使用从利用光刻技术的剥离法、蚀刻和激光照射中选择的至少一种方法来形成所述第一蚀刻用孔(6)。
14.如权利要求10所述的太阳能电池的制造方法,其特征在于,
使用从利用光刻技术的方法、蚀刻和激光照射中选择的至少一种方法来形成所述第二蚀刻用孔(26)。
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