[发明专利]构件

说明书

技术领域

本发明涉及一种构件，包括一个由弹性体材料构成的元件，其中该元件设有一个标识。

背景技术

由EP 1 354 304 B1已知一些此类型的构件。在那里描述了一种通过叠置一个标记防伪地对构件进行标识的方法。为此一个标签设有可探测的微粒，它们以一种随机图案分布在标签上。借助一个光学系统对这些微粒进行检测和存储并且可以通过重复读出更新明确地对其进行识别。例如借助一个标签描述一个圈状物的标记。还有在机械元件中，制造的防伪性和校准溯源性也越来越重要，因为例如伪造的劣质的密封件可能过早地磨损或完全不能提供所需要的密封作用并由此可能引起极大的损坏。

发明内容

本发明的目的在于，将一个可长久保存的和防伪的标识安置到具有密封材料的构件上。

利用权利要求1的特征达到该目的。诸从属权利要求涉及有利的实施形式。

为了达到该目的，由一种密封材料构成的元件设有一个标识，该标识作为形貌标识引入到元件中。密封材料在本发明意义上是具有弹性体的或弹性的特性的聚合物材料。这类材料例如是类似橡胶的材料、弹性体、热塑性弹性体、热塑性聚氨酯或聚四氟乙烯。作为形貌标识引入到所述元件的材料的深度中的标识以编码的形式含有对产品、制造商的数据和其他的信息。编码使构件的标识以及一种防伪的鉴别和构件在制造商以及必要时关于生产批次的信息方面的一种明确的识别成为可能。标识因此构成一种真实性特征。优选的是，所述标识借助一种激光加工引入到元件中，因为激光标记直接标绘到构件上并且由此材料本身被标记。通过激光处理实现一种具有预选深度的材料蚀刻。因此不可能从构件中去掉标记而不损坏构件。还有利的是，激光标记不接触地实现并且以这样的方式具有由此得出的伪造标识的构件可以没有变形。此外紧接制造之后将标识标绘到成品上。因此可以将一些制造数据如生产日期和批号以及其他的质量特征作为其他的信息接着叠置到构件上。激光标记在表面标绘并且因此能够特别简单地叠置和探测。此外没有外部材料引入到构件中，那样可能被自由标定并可能引起不期望的结果。用较简单的光学装置可读出标识。特别是相对于电子标识例如集成的存储器芯片，通过激光的光学标识是成本合算的并因此也适用于物美价廉的大量构件。光学标识还特别适用于标识弯曲的、三维的面。可以设有按照本发明的标识的可设想的构件例如是径向轴密封圈、O型圈、X型圈、方形圈、橡胶波纹管、薄膜、液压密封件、气动密封件和类似构件。

标识可以包含多倍冗余的信息。“冗余的”意味着，信息是多倍的并且以不同的形式保存在标识中。因此还有可能，如果标识的大部分例如因构件的磨损而被破坏，则仍有可能读出所述标识。

标识可以引入到元件的一个功能面中。特别在密封构件中需要对其非金属的组分进行标识。密封件通常包括一个密封材料-金属复合结构，其中对于伪造的产品可以重新使用原来的金属件。因此对金属件进行标识是不符合目的，而是对密封功能负有责任的和非常关键的并且对磨损缺乏抵抗力的由密封材料构成的元件进行标识，在某些情况下也对功能面进行标识。在此令人惊喜地确定，当一个功能面设有一个叠置到表面上并且导致一种材料蚀刻的激光标记时，并不影响一个密封件的功能。特别是业已证明，按照本发明标识的构件还满足提高的卫生的要求并且在标识中没有不允许的细菌生长发生。这样标识的密封件可以特别构成为不同横截面的密封圈、径向轴密封圈、平面密封件或阀杆密封件。特别是在O型圈和可比较的密封元件中有利的是，标识可以引入到一个功能面中，因为在O型圈中不是从一开始就确定，哪个面部分在组装以后对于密封功能是重要的。

标识的深度可以小于100μm，优选小于50μm。在试验中已显示，其深度只为2μm的标识也是可读出的，只要原始的表面粗糙度处在该值之下。不过在这样小的深度情况下，由于磨损在所述构件越来越长的使用时间以后，可读出性逐渐降低，以致标识在一些构件中不再是可读出的。对于可读出性来说有利的是，标识的深度尽可能大。不过如果标识的深度大于100μm，则在一些构件中，在这里在密封构件中显示出密封功能失效。在深度小于50μm时，产生可读出性与密封功能的一种特别有利的比例关系。如果密封功能要满足提高的要求或遭受不利的条件，则小于25μm的深度是特别有利的。此外还已表明，即使在密封材料高度浸胀以后仍可很好地读出所述标识。