[发明专利]X射线计算机断层成像装置和采用X射线计算机断层成像检测对象的方法

权利要求书

1.一种用于通过X射线计算机断层成像检测对象的X射线计算机断层成像装置，包括

-X射线源(3)，用于产生X射线辐射(6)，

-X射线检测器(4)，用于检测X射线辐射(6)，

-对象载体(5)，用于将待检测对象(2)设置在所述X射线源(3)和所述X射线检测器(4)之间，以及

-评估单元(18)，用于评估所检测的X射线辐射(6)，

其特征在于

-第一强度测量装置(13)，其用于测量所述X射线辐射(6)的第一强度(I₀)，并被设置在所述X射线源(3)和所述对象载体(5)之间，

-第二强度测量装置(15)，其用于测量所述X射线辐射(6)的第二强度(I₁)，并在所述对象载体(5)和所述X射线检测器(4)之间被设置所述对象(2)的投影区域(10)之外，

-所述强度测量装置(13，15)连至所述评估单元(18)以传送所测量的强度(I₀，I₁)，以及

-所述评估单元(18)被配置为使得根据所测量强度(I₀，I₁)能够计算至少一个散射辐射校正因子(F)。

2.根据权利要求1的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，第一间隔(A₁)与第二间隔(A₂)的比率小于1/2、特别是小于1/4以及特别是小于1/8，其中，所述第一间隔(A₁)被定义为所述第一强度测量装置(13)和X射线源(3)之间的最短轴向距离，所述第二间隔(A₂)被定义为所述第一强度测量装置(13)和所述对象载体(5)之间的最短轴向距离。

3.根据权利要求1或2的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，所述第一强度测量装置(13)被设置在所述对象(2)的辐射区域(9)之外。

4.根据权利要求1至3中任一项的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，第三间隔(A₃)与第四间隔(A₄)的比率小于1/2、特别是小于1/4以及特别是小于1/8，其中，所述第三间隔(A₃)被定义为所述第二强度测量装置(15)和所述X射线检测器(4)之间的最短轴向距离，所述第四间隔(A₄)被定义为所述第二强度测量装置(15)和所述对象载体(5)之间的最短轴向距离。

5.根据权利要求1至4中任一项的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，所述强度测量装置(13，15)被配置为电子剂量计。

6.根据权利要求1至5中任一项的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，所述强度测量装置(13，15)构造相同。

7.根据权利要求1至6中任一项的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，所述第一强度测量装置(13)被设置为将未衰减初级X射线辐射(6a)的强度测量为第一强度(I₀)，而所述第二强度测量装置(15)被设置为使得将由未衰减初级X射线辐射(6a)的强度和次级X射线辐射(6c)的强度组成的强度测量为第二强度(I₁)。

8.根据权利要求1至7中任一项的X射线计算机断层成像装置，其特征在于，所述强度测量装置(13，15)被设置在测量区域(11)内，其中所述初级未衰减X射线辐射(6a)从所述X射线源(3)到达所述X射线检测器(4)上，而不撞击所述待检测的对象(2)。