[发明专利]圆形层析摄影合成X射线管无效
申请号: | 200980108249.1 | 申请日: | 2009-03-06 |
公开(公告)号: | CN101965623A | 公开(公告)日: | 2011-02-02 |
发明(设计)人: | A·特伦;K·埃哈德 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01J35/06 | 分类号: | H01J35/06;H01J35/14 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 圆形 层析 摄影 合成 射线 | ||
1.一种X射线管,包括:
阳极布置(10),其具有在所述阳极布置的表面(15)上的多个焦斑位置(11、12),其中有第一焦斑位置(11)和第二焦斑位置(12),
阴极布置(20),其具有多个阴极(21、22),其中有第一阴极(21)和第二阴极(22),
其中,所述第一阴极适于发射第一电子束(31),该第一电子束聚焦于所述第一焦斑位置上,以便生成具有第一辐射立体角扇区(43)的第一X射线束(41),
其中,所述第二阴极适于发射第二电子束(32),该第二电子束聚焦于所述第二焦斑位置上,以便生成具有第二辐射立体角扇区(44)的第二X射线束(42),
其中,所述第一辐射立体角扇区和所述第二辐射立体角扇区具有重叠区域(45),
其中,所述重叠区域被设计尺寸,以能够将探测器(50)和用于定位要被检查的对象(61)的预定位置(60)定位于其中,使得所述预定位置相对于所述第一X射线束和所述第二X射线束中的每个定位在所述探测器的射束上游。
2.如权利要求1所述的X射线管,其中,所述多个焦斑位置等距分布在所述阳极的所述表面上的圆线(13)的至少一段上。
3.如权利要求2所述的X射线管,其中,所述电子束的辐射方向与所述阳极的所述表面上的所述圆线共面。
4.如先前权利要求中的任一项所述的X射线管,其中,所述多个阴极等距分布在圆线(23)的至少一段上。
5.如先前权利要求中的任一项所述的X射线管,其中,所述阳极的相应的表面部分的垂线(15)相对于相应的电子束的入射角(36)倾斜。
6.如先前权利要求中的任一项所述的X射线管,其中,所述多个阴极中的至少一部分包括纳米管发射器。
7.如先前权利要求中的任一项所述的X射线管,其中,所述阴极布置可旋转地安装在所述X射线管(1)中。
8.如先前权利要求中的任一项所述的X射线管,其中,所述阴极布置还包括具有用于长期电子束生成的热丝发射器的至少一个长期阴极(29)。
9.一种X射线曝光装置,包括:
如权利要求1至8中的任一项所述的X射线管(1),
探测器(50),
用于定位要被检查的对象(61)的预定位置(60),
其中,所述探测器和用于定位要被检查的对象的所述预定位置位于所述重叠区域(45)中,
其中,所述预定位置相对于所述第一X射线束(41)和所述第二X射线束(42)中的每个定位在所述探测器的射束上游。
10.如权利要求9所述的X射线曝光装置,其中,所述X射线管可旋转地安装。
11.如权利要求10所述的X射线曝光装置,其中,所述X射线管(1)的旋转轴(6)垂直于所述阳极(10)的所述表面(15)上的焦轨(14)的所述圆线(13)的平面(17)。
12.如权利要求9至11中的任一项所述的X射线曝光装置,其中,所述探测器是平板探测器,其中,所述探测器的垂线(56)与所述X射线管的所述旋转轴相对应。
13.如权利要求9至12中的任一项所述的X射线曝光装置,其中,所述预定位置位于所述X射线管的旋转轴上。
14.一种用于操作用于检查对象的X射线曝光装置中的X射线管的方法,所述方法包括:
在第一时段期间,将多个阴极中的第一阴极的第一电子束聚焦(S1)于第一焦斑位置上以生成具有第一辐射立体角扇区的第一X射线束,并且,由所述第一X射线束照射(S2)探测器,
在第二时段期间,将所述多个阴极中的第二阴极的第二电子束聚焦(S3)于第二焦斑位置上以生成具有第二辐射立体角扇区的第二X射线束,并且,由所述第二X射线束照射(S4)所述探测器,
其中,所述探测器和用于定位要被检查的对象的预定位置位于所述第一辐射立体角扇区和所述第二辐射立体角扇区的重叠区域中,使得所述预定位置相对于所述第一X射线束和所述第二X射线束中的每个定位在所述探测器的射束上游。
15.如权利要求14所述的方法,还包括生成(S5)多个图像,每个图像基于相应的X射线束中的每个对所述探测器的相应的照射。
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