[发明专利]触敏装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学触敏装置以及一种确定与光学触敏装置接触的对象的位置和确定该对象的位置变化的方法。具体地，本发明涉及一种光触摸板以及一种确定与光触摸板接触的对象的位置和确定该对象的位置变化的方法。

背景技术

DE202005010570-U1公开了一种干扰发生在一个波导内的全内反射的条件用于确定接触的方法。

本发明的目的在于提供一种能够以低成本制造的光学触敏装置。

发明内容

根据本发明的一方面，提供一种触敏装置，包括：光源，用来发射光；触敏波导，被配置用于将光从光源向触敏波导的触敏面引导，使得对象干扰在该对象接触触敏面的接触点处的被引导的光的至少一部分；检测器阵列，被配置为检测通过触敏波导从光源传播的光的强度分布，用于对象与触敏面之间的接触点的位置编码；以及第一光重定向部件，被配置为将通过触敏波导从光源传播到第一光重定向部件的光向检测器阵列重定向。其中，当对象在相应特定接触点接触触敏面时，向检测器阵列的特定点传播的光的至少一部分被阻止入射到检测器阵列的特定点。优选地，光的重定向涉及在与触敏面平行的面中改变传播(具体地，如投影所见)方向。

根据本发明的另一方面，提供一种接触触敏面的对象的位置编码的方法，所述方法包括：从光源发射光；使用触敏波导将光从光源向触敏波导的触敏面引导，使得对象干扰在该对象接触触敏面的接触点处的被引导的光的至少一部分；使用检测器阵列检测通过触敏波导从光源传播的光的强度分布，用于对象与触敏面之间的接触点的位置编码；以及使用第一光重定向部件将通过触敏波导从光源传播到第一光重定向部件的光向检测器阵列重定向。其中，当对象在相应特定接触点接触触敏面时，向检测器阵列的特定点传播的光的至少一部分被阻止入射到检测器阵列的特定点。优选地，光的重定向涉及在与触敏面平行的面中改变传播方向。

附图说明

通过下面参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的特点和优点对于本领域的技术人员将变得更加容易理解，其中：

图1示意性示出根据本发明的装置的优选实施例的平面图，

图2示出沿图1的线II-II的截面，

图3示出图1的实施例的平面图，

图4示出图1的实施例的平面图，

图5示出图1的实施例的平面图，

图6示出图1的实施例的平面图，

图7示意性示出根据本发明的装置的优选实施例的平面图，

图8示出沿图7的线VIII-VIII的横截面，

图9示出沿图7的线IX-IX的横截面，

图10示出沿图7的线X-X的横截面，

图11示意性示出根据本发明的装置的实施例的横截面图，

图12示意性示出根据本发明的装置的优选实施例的平面图，

图13示出沿图12的线XIII-XIII的横截面，

图14示出沿图12的线XIV-XIV的横截面，

图15示出光重定向部件的横截面，

图16示出光重定向部件的横截面，

图17示意性示出根据本发明的装置的优选实施例的平面图，

图18示出图17示出的实施例的部分分解图，

图19示出图17示出的实施例的部分分解图，

图20示出图17示出的实施例的部分分解图，

图21示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图22示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图23示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图24示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图25示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图26示意性示出根据本发明的装置的实施例的横截面图，

图27示意性示出根据本发明的装置的实施例的横截面图，

图28示意性示出具有显示器的根据本发明的装置的实施例的横截面图，

图29示意性示出包括信号处理器的根据本发明的装置的实施例，

图30示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图31示出沿图30的线XXXI-XXXI的横截面，

图32示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图33示出沿图32的线XXXIII-XXXIII的横截面，

图34示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图35示意性示出根据本发明的装置的实施例的平面图，

图36示意性示出检测器阵列的测量信号作为在检测器阵列测量的坐标的函数的示例，