[发明专利]分光器

说明书

技术领域

本发明涉及对光进行分光并进行检测的分光器。

背景技术

作为以往的分光器，例如众所周知由专利文献1～4所记载的分光器。在专利文献1中所记载的是以分光部对入射到封装体内的光进行分光并由光检测元件加以检测的分光器，形成有光栅沟槽的构件作为分光部而被固定于圆筒形状的封装体的内壁面。

专利文献1：美国专利第4644632号说明书

专利文献2：日本特开2000-298066号公报

专利文献3：日本特开平8-145794号公报

专利文献4：日本特开2004-354176号公报

发明内容

发明所要解决的问题

然而，对于专利文献1中所记载的分光器来说，在因温度变化等而在封装体上产生形变的情况下，形变会集中于光栅沟槽的周围的平面状的区域与形成有光栅沟槽的曲面状的区域之间的交界线上，因而会担心在光栅沟槽上产生位置偏移。

因此，本发明是有鉴于上述的情况而悉心研究的结果，以提供一种即使在封装体产生形变的情况下，也能够抑制在光栅沟槽产生的位置偏移的分光器为目的。

解决问题的方法

为了达到上述目的，本发明所涉及的分光器的特征在于，是一种由分光部对光进行分光并由光检测元件进行检测的分光器；具备容纳光检测元件的封装体；封装体的内壁面包含沿着规定的方向排列多个分光部的光栅沟槽而形成的第1区域、以及包围该第1区域的第2区域；第1区域和第2区域是连续的，并且被形成于同一曲面上。

在该分光器上，包围形成有分光部的光栅沟槽的第1区域的第2区域与第1区域连续，并且被形成于同一曲面上。因此，产生于封装体的形变被第1区域的周围的第2区域分散。因此，即使在封装体上产生形变的情况下，也可以抑制产生于光栅沟槽的位置偏移。

另外，在本发明所涉及的分光器中，优选，封装体的外形为长方体形状，并且封装体具有包含曲面的内壁面的凹部，第1区域以及第2区域被形成于凹部的曲面的内壁面。在此情况下，在封装体中，被形成于曲面的内壁面的第1区域以及其周围的区域成为相对厚壁。因此，即使在将外力施加于封装体的情况下，也难以在形成有光栅沟槽的第1区域上产生形变。

另外，在本发明所涉及的分光器中，优选，在封装体的外表面，设置在规定的方向上位于分光部的两侧并且沿着与规定的方向垂直的方向延伸的一对沟槽。在此情况下，例如在对封装体进行树脂成型的时候所产生的收缩由该一对沟槽而在规定的方向(光栅沟槽的排列方向)上得到缓和，并更进一步地抑制了该方向上的光栅沟槽的位置偏移。因此，能够抑制分光特性的降低。

另外，在本发明所涉及的分光器中，优选，还具有以与分光部相对的方式嵌合于封装体的光透过基板，光检测元件被安装于光透过基板上。在此情况下，能够容易且高精度地进行相对于分光部的光检测元件的定位。

另外，在本发明所涉及的分光器中，优选，在规定的方向上的封装体和光透过基板之间的间隙比在与规定的方向垂直的方向上的封装体和光透过基板之间的间隙小。在此情况下，在规定的方向上能够高精度地定位光透过基板，进而，对于被安装于该光透过基板上的光检测元件，也能够在规定的方向上高精度地定位。因此，能够抑制光检测特性的降低。

发明的效果

根据本发明，能够提供一种即使在封装体上产生形变的情况下，也可以抑制产生于光栅沟槽的位置偏移的分光器。

附图说明

图1是本发明所涉及的分光器的一个实施方式的截面图。

图2是图1的分光器的主要部分放大截面图。

图3是图1的分光器的下面图。

图4是图1的分光器的封装体的平面图。

图5是本发明所涉及的分光器的其它实施方式的截面图。

图6是本发明所涉及的分光器的其它的实施方式的下面图。

符号的说明

1…分光器、2…封装体、3…分光部、4…光检测元件、10…凹部、11…沟槽、12…区域(第1区域)、13…区域(第2区域)、14…光栅沟槽、16…光透过基板

具体实施方式

以下，参照附图，对本发明的优选的实施方式进行详细的说明。还有，在各个附图中，将相同的符号标注于相同或者相当的部分，从而省略重复的说明。

图1是本发明所涉及的分光器的一个实施方式的截面图。如图1所示，分光器1由光检测元件4来检测光L2，光L2是由分光部3对入射到封装体2内的光L1进行反射并分光后的光。