[发明专利]一种电致发光像素驱动设备、发光设备和电致发光像素驱动设备中的特性参数获取方法有效
申请号: | 200980109381.4 | 申请日: | 2009-11-27 |
公开(公告)号: | CN101978411A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 小仓润;武居学;樫山俊二 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;蹇炜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电致发光 像素 驱动 设备 发光 中的 特性 参数 获取 方法 | ||
1.一种用于驱动多个像素(21(i,j))的像素驱动设备,所述多个像素(21(i,j))连接至多个信号线(Ld)中的每一个,且所述多个像素(21(i,j))中的每一个包括发光元件(101)、和像素驱动电路(DC),所述像素驱动电路(DC)具有驱动晶体管(T3),所述驱动晶体管用于控制供应至所述发光元件的电流,且所述驱动晶体管的电流路径的一端连接至所述发光元件的一个端子,所述像素驱动电路具有保持电容(Cs),所述保持电容用于通过施加于所述驱动晶体管的控制端子上的电压储存电荷,所述像素驱动设备包括:
电压施加电路(14),用于输出参考电压(Vref);
电压测量电路(114),配备为连接至每个信号线;
开关电路(Sw3),用于在所述电压施加电路和所述电压测量电路之间切换每个信号线的一端的连接;以及
特性参数获取电路(16),用于获取与每个像素的电特性相关的特性参数;
其中,
所述参考电压具有的电位使得,所述驱动晶体管的所述电流路径的所述一端相对于另一端的电位差是超过所述驱动晶体管的阈值电压(Vth)的值;以及
所述开关电路将每个信号线的所述一端连接至所述电压施加电路,并在通过所述电压施加电路在每个信号线的所述一端上施加所述参考电压达预定的时间后将每个信号线的所述一端和所述电压施加电路之间的连接设定为中断,且在预定的沉降时间消逝后将每个信号线的一端连接至每个电压测量电路;以及
当通过所述开关电路将每个电压测量电路连接至每个信号线的一端时,所述每个电压测量电路获取每个信号线的所述一端的电压作为所测得的电压;以及
所述沉降时间设定为第一沉降时间组值和第二沉降时间值;所述第一沉降时间组由多个不同时间值构成,所述多个不同时间值中的每一个大于比率(C/β0),其中,C是总电容,所述总电容为所述保持电容、寄生于单个信号线上的寄生电容、以及寄生于所述发光元件上的发光元件电容的和,且β0是所述电流放大因子的参考值;以及所述第二沉降时间由比所述比率(C/β0)短的时间值构成;以及
基于所述电压测量电路获取的针对所述第一沉降时间组的所述多个测得的电压的值,所述特性参数获取电路获取每个像素的所述驱动晶体管的所述阈值电压和所述像素驱动电路的所述电流放大因子作为所述特性参数中的第一特性参数;并且,基于获取的针对每个像素的所述阈值电压的值和所述电压测量电路获取的针对所述第二沉降时间的所测得的电压的值,所述特性参数获取电路获取表示所述电流放大因子的无规性的无规性参数作为所述特性参数中的第二特性参数。
2.如权利要求1所述的像素驱动设备,其中
所述电流放大因子的所述参考值是所述电流放大因子的典型值或设计值。
3.如权利要求1所述的像素驱动设备,其中
在初始阶段获取所述第一特性参数和所述第二特性参数,在所述初始阶段,每个像素的所述驱动晶体管具有初始特性。
4.如权利要求1所述的像素驱动设备,其中
当所述第一沉降时间组为t1和t2时,基于方程(1),所述特性参数获取电路获取所述第一特性参数,即每个像素的Vth和β,针对所述第一沉降时间组的所测得的电压分别为Vmeas(t1)和Vmeas(t2)、所述阈值电压为Vth、以及所述电流放大因子为β,
(1)...Vmeas(t)=Vth+(C/β)/t
其中,
t=t1,t2。
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