[发明专利]导电性组合物及其在半导体装置制造中的使用方法无效

专利信息
申请号: 200980111460.9 申请日: 2009-04-08
公开(公告)号: CN101981630A 公开(公告)日: 2011-02-23
发明(设计)人: A·F·卡罗尔 申请(专利权)人: E.I.内穆尔杜邦公司
主分类号: H01B1/22 分类号: H01B1/22
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 朱黎明
地址: 美国特*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 导电性 组合 及其 半导体 装置 制造 中的 使用方法
【权利要求书】:

1.厚膜导电组合物,所述厚膜导电组合物包含:

a)导电材料;

b)含铑添加剂;

c)一种或多种玻璃料;和

d)有机介质,

其中a)、b)和c)分散于d)中。

2.权利要求1的组合物,其中所述导电材料为银。

3.权利要求1的组合物,其中所述含铑添加剂包含树脂酸铑和铑金属中的一者或多者。

4.权利要求3的组合物,其中所述铑金属为所述总导电组合物的.001至10重量%。

5.权利要求4的组合物,其中所述铑金属为所述总导电组合物的0.01至0.03重量%。

6.权利要求1的组合物,其中所述玻璃料包含按总玻璃组合物的重量百分比计:SiO2 1-36、Al2O3 0-7、B2O3 1.5-19、PbO 20-83、ZnO0-42、CuO 0-4、ZnO 0-12、Bi2O3 0-35、ZrO2 0-8、TiO2 0-7、PbF23-34。

7.权利要求1的组合物,其中所述玻璃料为无铅的。

8.权利要求1的组合物,其中所述组合物包含一种或多种选自以下的附加金属/金属氧化物:(a)金属,其中所述金属选自锌、钆、铈、锆、钛、锰、锡、钌、钴、铁、铜、和铬;(b)一种或多种金属的金属氧化物,所述金属选自锌、钆、铈、锆、钛、锰、锡、钌、钴、铁、铜和铬;(c)在焙烧时能够生成(b)的金属氧化物的任何化合物;以及(d)它们的混合物。

9.权利要求1的组合物,其中所述含锌添加剂包括ZnO。

10.权利要求1的组合物,其中所述银为所述厚膜组合物总固体组分的70至99重量%。

11.制造半导体装置的方法,所述方法包括以下步骤:

(a)提供一个或多个半导体基板、一个或多个绝缘膜、和权利要求2的厚膜组合物;

(b)将所述绝缘膜施加到所述半导体基板上;

(c)将所述厚膜组合物施加到所述半导体基板上的绝缘膜上;和

(d)焙烧所述半导体、绝缘膜和厚膜组合物,

其中在焙烧时,所述有机载体被移除,所述银和玻璃料被烧结,并且所述绝缘膜被所述厚膜组合物的组分穿透。

12.权利要求11的方法,其中所述绝缘膜包含一种或多种选自以下的组分:氧化钛、氮化硅、SiNx:H、氧化硅、以及氧化硅/氧化钛。

13.由权利要求11所述的方法制造的半导体装置。

14.包括电极的半导体装置,其中所述电极在焙烧之前包含权利要求1的组合物。

15.包括权利要求14的半导体装置的太阳能电池。

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