[发明专利]偏光薄膜的检查方法

权利要求书

1.一种偏光薄膜的检查方法，其特征在于，包括：

用缺陷检查装置对带状的偏光薄膜进行缺陷的检出的工序；

基于缺陷的检出结果制作出表示缺陷的位置的缺陷位置数据并保存到存储介质中的缺陷位置记录工序；

在进行了所述缺陷的检出之后将带状的偏光薄膜卷绕到滚筒上的工序；

从所述滚筒拉出带状的偏光薄膜的工序；

对已被拉出的带状的偏光薄膜层叠其它薄膜的工序；

在层叠了其它薄膜后，读入保存在存储介质中的缺陷位置数据，且基于读入的缺陷位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置，并基于已确定的缺陷位置而在所述其它薄膜上的缺陷的附近位置上形成记号的记号形成工序。

2.如权利要求1所述的偏光薄膜的检查方法，其特征在于，

在所述缺陷位置记录工序中，基于缺陷的检出结果，对多个区域中的含缺陷区域的偏光薄膜宽度方向端部，印刷用于识别含缺陷区域的识别码，作为所述缺陷位置数据，制作出表示含缺陷区域内的缺陷位置的缺陷位置数据并与各个含缺陷区域建立对应地保存到存储介质中，所述多个区域是用沿着偏光薄膜的宽度方向形成的分割线将带状的偏光薄膜的整个区域进行分割而成，

在所述记号形成工序中，读出偏光薄膜上的识别码，并基于与由读出的识别码识别的区域建立了对应的缺陷位置数据来确定偏光薄膜的缺陷位置。

3.如权利要求2所述的偏光薄膜的检查方法，其特征在于，还包括在印刷所述识别码之前对所述偏光薄膜的宽度方向端部实施电晕放电处理的工序。

4.如权利要求1至3中任一项所述的偏光薄膜的检查方法，其特征在于，在形成所述记号的工序中，使用以在所述偏光薄膜的宽度方向端部排列多个的方式配置的划线器来形成记号。