[发明专利]样品支持物及其使用方法

权利要求书

1.用于分析，例如光学或电化学读数装置(50)中的样品支持物(10，20，30)，所述样品支持物(10，20，30)包括：

具有至少一个孔(15，25，35)的用于接受待分析的样品的基材，其中至少一个孔(15，25，35)完全贯穿基材，其尺寸使得利用样品的表面张力将样品保持在至少一个孔(15，25，35)中。

2.权利要求1的样品支持物(20，30)，其中基材包含第一个上部基材(22，32)和第二个下部基材(26，36)，它们一起封埋了多孔膜(24，34)。

3.权利要求2的样品支持物(30)，其中样品支持物(30)还包括与第一个上部基材(32)的顶面相连的第一个盖子(31)和/或与第二个下部基材(36)的底面相连的第二个盖子(37)。

4.权利要求2或3的样品支持物(20，30)，其中多孔膜(24，34)和/或第一个盖子(31)和/或第二个盖子(37)由亲水材料或疏水材料制成。

5.权利要求1到4任一项的样品支持物(10，20，30)，其中基材由玻璃、塑料或金属、和/或具有确定的光学性质使得样品支持物(10，20，30)能够用作至少一个孔(15，25，35)中的样品测量的光学标准品的材料、例如红宝石、萤石、绿松石、琥珀、蓝宝石、锆石等制成。

6.权利要求1到5任一项的样品支持物(10，20，30)，其中至少一个孔(15，25，35)具有圆形形状。

7.权利要求1到6任一项的样品支持物(10，20，30)，其中限定至少一个孔(15，25，35)的基材的内表面是优选被亲水材料覆盖的亲水表面。

8.权利要求1到6任一项的样品支持物(10，20，30)，其中限定至少一个孔(15，25，35)的基材的内表面是优选被疏水材料覆盖的疏水表面。

9.权利要求1到8任一项的样品支持物(10，20，30)，其中样品支持物(10，20，30)包括多个孔(15，25，35)，其中多个孔(15，25，35)的一部分的直径比多个孔(15，25，35)的另外一部分的直径更大。

10.权利要求1到8任一项的样品支持物(10，20，30)，其中至少一个孔(15，25，35)的直径在0.1-10mm的范围内。

11.权利要求10的样品支持物(10，20，30)，其中至少一个孔(15，25，35)的直径在0.5-3.0mm的范围内。

12.在分析读数装置(50)中使用权利要求1到11任一项的样品支持物(10，20，30)的方法，所述方法包括下列步骤：

用样品和试剂混合物填充样品支持物(10，20，30)的至少一个孔(15，25，35)；

将样品支持物(10，20，30)插入到分析读数装置(50)中；以及

使用分析读数装置(50)分析样品支持物(10、20、30)的至少一个孔(15，25，35)中的样品和试剂混合物。

13.权利要求12的方法，包括向至少一个孔(15，25，35)添加抗蒸发剂的另一个步骤，以最小化或避免沉积在样品支持物(10、20、30)的至少一个孔(15，25，35)中的样品的蒸发，所述抗蒸发剂选自聚乙二醇、二乙二醇、甘油、MgCl₂、LiCl、CaCl₂、Ca(NO₃)₂、ZnCl₂和其他有机和无机化合物例如醇类和胺类。

14.权利要求12的方法，其中利用分析读数装置(50)分析样品支持物(10、20、30)的至少一个孔(15，25，35)中的样品和试剂混合物的步骤，通过使用蒸发的校正和/或模型将蒸发的影响考虑在内。

15.权利要求14的方法，其中分析样品支持物(10、20、30)的至少一个孔(15，25，35)中的样品和试剂混合物的步骤，还包括测定至少一个孔(15，25，35)中的样品和试剂混合物的体积，以便可以使用体积将蒸发的影响考虑在内。