[发明专利]安全元件无效
申请号: | 200980111897.2 | 申请日: | 2009-01-24 |
公开(公告)号: | CN102066125A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
发明(设计)人: | M·格里希克;A·贝克;S·福伊吉奥卡斯;T·比尔茨特恩;J·肯芬霍伊尔;L·布雷尔;G·茨奥瓦拉斯;D·波普胡森;M-C·耶西尔达格;H·普德莱纳 | 申请(专利权)人: | 拜尔技术服务有限责任公司;拜尔材料科学股份公司 |
主分类号: | B42D15/10 | 分类号: | B42D15/10;B42D15/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张涛;李家麟 |
地址: | 德国莱*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 安全 元件 | ||
1.一种安全元件,包括至少一个透明层,在所述至少一个透明层中随机地分布有多个微反射体,其特征在于,所述微反射体的至少一部分具有至少一个反射表面,所述至少一个反射表面不平行于所述透明层的表面。
2.根据权利要求1所述的安全元件,其特征在于,所述微反射体的反射表面的大小在1*10-10m2至1*10-7m2的范围内。
3.根据权利要求1或2所述的安全元件,其特征在于,两个微反射体的平均距离是反射表面的平均大小的至少5倍。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的安全元件,其特征在于,所述微反射体的反射表面在与所述透明层的表面成0°至60°的角度范围内随机地取向。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的安全元件,其特征在于,所述微反射体是薄片状的并且由于制造所述安全元件期间的剪切力而具有围绕与所述透明层的表面平行的优选取向的随机分布。
6.一种借助于根据权利要求1至5中任一项所述安全元件来验证和/或识别对象的方法,至少包括以下步骤:
(A)将所述安全元件相对于电磁射线源和相对于至少一个用于电磁射线的探测器定向为使得对于所述微反射体的至少一部分而言由源、反射表面和至少一个探测器构成的布置满足反射定律,
(B)用电磁射线照射所述安全元件的至少一部分,
(C)探测在微反射体上反射的射线,
(D)必要时改变安全元件相对于射线源和/或相对于至少一个探测器的相对位置,使得对于所述微反射体的其他部分而言满足反射定律,
(E)必要时重复步骤(B)和(C)并且在需要时附加地重复(D)和(E)直到检测到足够数目的反射微反射体,
(F)将根据相对位置探测到的反射图案与至少一个额定图案进行比较,
(G)根据步骤(F)中的比较的结果输出关于对象的真实性和/或身份的通知。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在步骤(D)使所述安全元件相对于由射线源和探测器构成的固定布置移动。
8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述射线源被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ并且所述探测器被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ’,其中δ≠δ’。
9.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述射线源被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ并且所述探测器被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ’,其中δ=δ’。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的方法,其特征在于,落到所述安全元件上的射线的剖面具有长轴和短轴,其中所述长轴的长度处于两个微反射体的平均距离的数量级并且所述短轴的长度处于所述微反射体的反射表面的平均大小的数量级。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述移动垂直于所述射束剖面的长轴进行。
12.一种借助于根据权利要求1至5中任一项所述安全元件来验证和/或识别对象的装置,至少具有:电磁射线源、用于电磁射线的探测器、用于容纳所述对象的载体、控制单元以及输出端,通过所述输出端能够向用户输出通知。
13.根据权利要求12所述的装置,其特征在于,射线源和探测器彼此固定地布置,而所述载体被实施为能够相对于由探测器和射线源构成的固定布置移动。
14.根据权利要求12或13所述的装置,其特征在于,所述射线源被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ并且所述探测器被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ’,其中δ≠δ’。
15.根据权利要求12或13所述的装置,其特征在于,所述射线源被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ并且所述探测器被布置为与所述安全元件的表面的法线成角度δ’,其中δ=δ’。
16.一种将根据权利要求1至5中任一项所述的安全元件用于个别化地验证和/或识别对象——优选个人化的安全文件或身份文件——的应用。
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