[发明专利]周期性缺陷检测装置及其方法

权利要求书

1.一种周期性缺陷检测装置，其包括：

传感器，用于获得对被检体上的长度比所预测的缺陷周期长的区域的性状进行评价的信号；

小区域选择单元，决定多个区域长度比所述区域短的小区域的位置，使得所述小区域在周期性缺陷的排列方向上以相邻的距离间隔全部相等的方式分离，并且从所述传感器输出中选择与所述多个小区域的位置对应的信号；

评价指数计算单元，在由该小区域选择单元选择出的多个信号间算出信号模式相互的类似性的评价指数；

设定值变更单元，变更所述小区域的位置和所述距离间隔，反复进行所述小区域选择单元和所述评价指数计算单元的运算处理；和

周期判定单元，在所述评价指数比预先设定的值高的情况下，将所述距离间隔判定为周期。

2.根据权利要求1所述的周期性缺陷检测装置，其中，

所述小区域选择单元包括：

第1小区域选择单元，决定一个长度比所述区域短的小区域的位置，将其作为第1小区域，并且从所述传感器输出中选择与所述第1小区域的位置对应的信号；和

第2小区域选择单元，以所述第1小区域的位置作为基准，配置多个第2小区域，使得多个第2小区域在周期性缺陷的排列方向上以距离间隔全部相等的方式分离，并且从所述传感器输出中选择与所述多个第2小区域的位置对应的信号，

所述设定值变更单元变更所述第1小区域的位置和所述距离间隔，反复进行所述小区域选择单元和所述评价指数计算单元的运算处理。

3.根据权利要求1所述的周期性缺陷检测装置，其中，

所述传感器是对由磁性金属部件构成的被检体进行励磁，以获得泄漏磁通信号的磁传感器。

4.根据权利要求1或2所述的周期性缺陷检测装置，其中，

使所述小区域的长度与设想的最大缺陷为相同程度的长度。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的周期性缺陷检测装置，其中，

所述评价指数计算单元对所述小区域分别算出评价类似性的值，并且将这些值组合求出所述评价指数。

6.根据权利要求4所述的周期性缺陷检测装置，其中，

所述评价指数计算单元对所述小区域分别算出评价类似性的值，并且将这些值相加作为所述评价指数。

7.根据权利要求1～5中任一项所述的周期性缺陷检测装置，其中，

对所述小区域分别评价类似性的值是所述小区域间的相关值。

8.一种周期性缺陷检测方法，其包括：

信号输入步骤，获得对被检体上的长度比所预测的缺陷周期长的区域的性状进行评价的传感器输出；

小区域选择步骤，决定区域长度比所述区域短的多个小区域的位置，并使所述多个小区域在周期性缺陷的排列方向上以相邻的距离间隔全部相等的方式分离，并且从所述传感器输出中选择与所述多个小区域的位置对应的信号；

评价指数计算步骤，在由该小区域选择单元选择出的多个信号间算出信号模式相互的类似性的评价指数；

设定值变更步骤，变更所述小区域的位置和距离间隔，反复进行(b)和(c)；和

周期判定步骤，在由(c)求出的评价指数比预先设定的值高的情况下将所述距离间隔判定为周期。

9.根据权利要求8所述的周期性缺陷检测方法，其中，

在所述小区域选择步骤中，决定一个长度比所述区域短的小区域的位置，将其作为第1小区域，并且以该第1小区域的位置作为基准，配置多个第2小区域，使得所述多个第2小区域在周期性缺陷的排列方向上以距离间隔全部相等的方式分离，并且从所述传感器输出中选择与所述第1小区域的位置及所述多个第2小区域的位置对应的信号，

在所述设定值变更步骤中，变更所述第1小区域的位置和距离间隔，反复进行(b)和(c)。