[发明专利]带状层压膜的卷取方法及带状层压膜的卷取物

说明书

技术领域

本发明涉及卷取带状层压膜而形成盘状的方法以及使用该卷取方法进行卷取的带状层压膜的卷取物。作为带状层压膜，例如，可以列举运输电子部件时使用的载带用盖带这样的、被裁切为窄幅的带状层压膜。

背景技术

从保管和运输时的便利性出发，裁断为带状的膜通常以卷取在卷芯上的状态、即作为卷取物来进行交易。例如，用于封装集成电路等芯片型电子部件所使用的盖带，从宽幅的原膜被裁切为窄幅的带状层压膜的形态，并在卷取在适当的卷芯的状态下进行流通。

作为裁断为带状的膜的卷取方法，通常已知有被称为“盘状卷绕”的方法、以及被称为“往复卷绕”或“卷轴卷绕”的方法。

被称为盘状卷绕的卷取方法是指在卷芯上在卷取位置不错开的情况下将带状膜卷绕成辊状的方法，其中，上述卷芯的卷取宽度与带状膜的宽度大致相同。这种方法通常适用于卷取长度为几百米的较短的带状膜的情况。

此外，被称为往复卷绕或卷轴卷绕的卷取方法是指在卷芯上一边连续地错开卷取位置一边螺旋状地卷绕带状膜的方法，其中，上述卷芯的卷取宽度大于带状膜的宽度。这种方法通常适用于需要卷取长度为几千米的带状膜的情况。

在上述卷取方法中，盘状卷绕法由于卷取完成后的外观漂亮且较之于往复卷绕法卷取体积减小从而可减少包装时的占用空间，因此，在多数情况下优选盘状卷绕法。

盘状卷绕法应用于各种领域，人们也在尝试对其卷取方法进行改善。通常，作为裁断为窄幅的带的卷取方法，考虑采用如下方法：较之于以固定的张力进行卷取，通过递变卷取法进行卷取能够实现稳定的卷取状态，在上述锥形卷取法中张力根据卷径而稍微减小(专利文献1)。另外，还提出了其他技术方案，例如，在对磁带等进行卷取时，根据卷径的变化使接触辊的支撑部移动的方法(专利文献2)，在对无纺布等进行卷取时，使用加压辊作为卷取开始时和卷取结束时的挤压载荷来进行控制的方法(专利文献3)。

专利文献1：日本国专利申请公开公报“特开昭55-044413号公报”

专利文献2：日本国专利申请公开公报“特开2005-206301号公报”

专利文献3：日本国专利申请公开公报“特开2006-225135号公报”

发明内容

如上所述，通常，在将裁断为带状的膜卷取成盘状的情况下，为了避免卷绕过紧，可以使用配合卷取进程减小施加给带的张力的方法。若发生卷绕过紧，则卷取物的卷取外形杂乱从而给保管、运输带来障碍，除此之外，带的形状本身发生变形，最坏的情况是可能变得无法使用。特别是，由多个不同材质的层构成的带状层压膜若发生卷绕过紧，则各层的厚度、形状分别发生变化，有时会引起层分离，可能给膜整体的功能带来致命的影响。因此，特别是在通过盘状卷绕法卷取带状层压膜的情况下，由于需要避免发生卷绕过紧的现象，通常要减小施加给带的张力。

此外，对于如磁带那样实质上为单层、且其表面具有滑动性的窄幅带而言，比较容易使带的宽度方向的厚度形成一致。即使将这种带卷成盘状卷，由于卷取时空气向卷取物外逃散，因此空气难以残留在卷取物中。但是，特别是对于如盖带这样，在成为基材的膜层上另外形成粘合剂层(密封层)的结构的带状层压膜而言，难以使宽度方向的厚度完全一致。此外，在反复卷绕这种结构的带的情况下，当处于上面的带状层压膜的厚度不均匀的密封层与处于下面的带状层压膜的膜层贴紧时，就不可避免地产生气密空隙。进入该空隙中的空气并不破坏周围的气密状态，卷取时所进入的空气不能逃散到卷取物外。如上所述进入卷取物中的空气，较之于构成膜层的材质，更易于因保管、运输时的温度变化等影响而发生膨胀或收缩，因此，成为卷取物发生塌卷或使卷取物翘曲变形为盘状并导致外周边缘发生翘起的原因。因此，在对带状层压膜进行盘状卷绕的情况下，较之于由单层构成的带状膜，因环境变化引起的塌卷或翘曲缺陷更为显著。

因此，就需要一种用于对由多个层构成的带状层压膜进行盘状卷绕而不会发生翘曲、塌卷缺陷的卷取方法。

本发明鉴于上述情况而完成，提供能够抑制运输、保管时卷取状态变形、塌卷的发生的带状层压膜的卷取方法以及使用该卷取方法进行卷取而获得的卷取物。

本发明人对解决上述问题的方法进行了专心研究，结果发现下述事实并从而完成了本发明，即，在将带状层压膜卷取为盘状时，根据已卷在卷芯上的带状层压膜的长度，按照预定的比率增加施加给带状层压膜的卷取张力，由此，能够使卷取物在运输、保管时保持稳定的卷取状态。