[发明专利]用来测量形成陶瓷的批料的水分含量的系统和方法

权利要求书

1.一种对形成陶瓷的批料进行挤出的方法，其包括：

传送所述形成陶瓷的批料；

在对所述批料进行传送的同时，对所述传送的批料的下方部分的水分含量进行实时测量；

对所述传送的批料进行挤出。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括使得所述批料的下方部分暴露出来，其中，对所述下方部分的水分含量进行实时测量。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述批料挤出形成蜂窝结构的挤出件。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述批料主要由无机材料组成。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述批料还包含有机材料。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述传送的批料具有上表面，并且所述暴露的步骤还包括在传送所述批料的时候，从所述批料的上表面除去所述传送的批料的至少一部分。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述除去的步骤还包括犁入所述上表面中。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括将犁形部件插入所述上表面中。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在被除去之前，所述传送的批料的层置于所述传送的批料的上表面上。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述传送的批料的层厚度是可调节的。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测量所述水分含量的步骤还包括测量暴露的所述批料的下方部分的光学吸收。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述光学吸收在大约1800-2100纳米的波长测量。

13.如权利要求11所述的方法，其特征在于，用具有视野的光学传感器测量所述光学吸收，并且所述批料的暴露的下方部分至少与所述视野一样宽。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，所述传送的批料的除去的层的任何部分均不进入所述视野。

15.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法还包括将测得的光学吸收与在具有已知水分含量的多个批料校准样品上预先测得的多个光学吸收数值相比较，从而确立校准的水分含量测量结果。

16.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述形成陶瓷的批料由批料源传送而来，并且所述方法还包括对传送批料的同时测得的传送的批料下方部分的水分含量测量结果做出响应，对批料源的水分含量进行调节。

17.一种用来对形成陶瓷的批料进行挤出的系统，其包括：

挤出机；

传送器，用来将所述批料传送到所述挤出机；

批料移除装置，设置在与传送器相邻的位置，位于挤出机的上游，对所述批料移除装置的位置和结构进行设计，以便在所述批料被传送通过所述装置的时候移除或移去一层批料，使得所述批料的下方部分暴露出来；

设置在与所述传送器相邻并且与所述批料移除装置相邻的位置的水分含量传感器装置，以足以对批料的下方部分的水分含量进行检测。

18.如权利要求17所述的系统，其特征在于，所述批料移除装置包括犁，该犁设计为用来移去一层批料。

19.如权利要求17所述的系统，其特征在于，所述水分含量传感器装置包括光学传感器装置，其设计为用来测量批料的下方部分的光学吸收。

20.一种对形成陶瓷的批料进行挤出的方法，其包括：

传送所述形成陶瓷的批料；

使得所述批料的下方部分暴露出来；

在对所述批料进行传送的同时，对所述传送的批料的下方部分的水分含量进行实时测量；

对所述传送的批料进行挤出。