[发明专利]偏光性扩散薄膜、偏光性扩散薄膜的制造方法以及含有偏光性扩散薄膜的液晶显示装置有效

专利信息
申请号: 200980112572.6 申请日: 2009-07-03
公开(公告)号: CN101990649A 公开(公告)日: 2011-03-23
发明(设计)人: 冈村友之;川住民生;稻富裕司;江里口真男;三隅正毅;岩田匡隆;井上晴夫;母里博志;善光洋文 申请(专利权)人: 三井化学株式会社
主分类号: G02F1/13357 分类号: G02F1/13357;G02B5/02;G02B5/30;G02F1/1335
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 偏光 扩散 薄膜 制造 方法 以及 含有 液晶 显示装置
【权利要求书】:

1.一种偏光性扩散薄膜,其为包含实质上一种的固有双折射为0.1以上的结晶性树脂的偏光性扩散薄膜,其中,

对可见光线的全光线透过率为50~90%,

对可见光线的透过雾度为15~90%,并且,

对可见光线的透过偏光度为20~90%。

2.根据权利要求1所述的偏光性扩散薄膜,其中,

所述偏光性扩散薄膜的结晶度为8~40%,

在对所述偏光性扩散薄膜照射多色光时的交叉检偏位下的偏光显微镜观察中,观察到亮部和暗部,

所述亮部和暗部包含实质上相同的组成,

所述亮部具有长轴并且各亮部的所述长轴相互大致平行,

所述亮部具有比所述暗部高的结晶度和高的取向度。

3.根据权利要求1所述的偏光性扩散薄膜,其中,

所述偏光性扩散薄膜的结晶度为8~40%,

在对所述偏光性扩散薄膜照射多色光时的交叉检偏位下的偏光显微镜观察中,观察到亮部和暗部,

所述亮部和暗部包含实质上相同的组成,

所述亮部具有长轴并且各亮部的所述长轴相互大致平行,

在所述偏光性扩散薄膜的大致平行于所述亮部的长轴方向的切断面上,在大致垂直于所述亮部的长轴方向且通过亮部和暗部的5μm的线上,通过氩离子激光拉曼分光光度计,照射具有514.5nm的波长的光,以0.5μm间隔进行扫描,将得到的拉曼光谱的1730cm-1附近的拉曼谱带的半值宽相对于测定位置进行绘图,此时的相邻的极大峰和极小峰的差的至少一个为0.2cm-1以上,并且,

在所述偏光性扩散薄膜的大致平行于所述亮部的长轴方向的切断面上,在大致垂直于所述亮部的长轴方向且通过亮部和暗部的5μm的线上,通过氩离子激光拉曼分光光度计,照射平行和垂直于所述亮部的长轴方向的偏光,以0.5μm间隔进行扫描,将得到的拉曼光谱的、照射平行于所述亮部的长轴方向的偏光时的1615cm-1附近的拉曼谱带强度Ip和照射垂直于所述亮部的长轴方向的偏光时的1615cm-1附近的拉曼谱带强度Iv的强度比(Ip/Iv)相对于测定位置进行绘图,此时的相邻的极大峰和极小峰的差的至少一个为0.03以上。

4.根据权利要求1所述的偏光性扩散薄膜,其中,

所述偏光性扩散薄膜的结晶度是8~40%,

所述偏光性扩散薄膜包含所述固有双折射为0.1以上的结晶性树脂的单轴拉伸树脂薄膜,

所述单轴拉伸树脂薄膜在薄膜厚为100μm时的对可见光线的透过雾度为20~90%,

在所述单轴拉伸树脂薄膜的垂直于拉伸方向的切断面的TEM像(摄像范围的薄膜厚度方向的距离是0.1μm,并且摄像面积是45μm2)中,观察到亮暗结构,

所述亮暗结构的亮部和暗部由实质上相同的组成构成。

5.根据权利要求2所述的偏光性扩散薄膜,其中,通过微波透过型分子取向计测定的、所述偏光性扩散薄膜的、以基准厚度为100μm时的规格化分子取向MOR-c为1.2~7。

6.根据权利要求3所述的偏光性扩散薄膜,其中,通过微波透过型分子取向计测定的、所述偏光性扩散薄膜的、以基准厚度为100μm时的规格化分子取向MOR-c为1.2~7。

7.根据权利要求4所述的偏光性扩散薄膜,其中,所述亮暗结构的二值化图像中的亮部的面积比例为6~80%。

8.根据权利要求1所述的偏光性扩散薄膜,其中,以薄膜厚为100μm时的透过偏光度为30~90%。

9.根据权利要求2所述的偏光性扩散薄膜,其中,所述结晶度为8~30%。

10.根据权利要求1所述的偏光性扩散薄膜,其中,所述结晶性树脂是聚酯系树脂、芳香族聚醚酮树脂或者液晶性树脂。

11.根据权利要求10所述的偏光性扩散薄膜,其中,所述结晶性树脂是聚对苯二甲酸乙二醇酯树脂。

12.根据权利要求1所述的偏光性扩散薄膜,其中,所述偏光性扩散薄膜的至少一个表面具有具备聚光功能的表面形状。

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