[发明专利]测光装置

说明书

技术领域

本发明涉及使来自测定对象物的光线分光而测定各波长的光线的亮度等的测定装置的改进。

背景技术

在现有技术中周知一种测光装置，其使来自测定对象物的光线的波长分光而测定它的各个波长的亮度等。

作为现有技术的测光装置，利用衍射光栅使来自测定对象物的光线按波长分开，并由作为受光部的固体摄像器件来接收按各波长分开的光线，根据来自该固体摄像器件的输出测定各波长的光线的亮度、色度等。

在现有测光装置中，即便在光线没有入射到受光部的各受光元件的情况，也会有暗电流因热噪声而从固体摄像器件输出(暗电流输出)。

因而，提出一种构成为进行多次测定的测光装置，在来自测定对象物的光线并不入射到受光部的状态下，检测来自固体摄像器件的暗电流输出，随后，使来自测定对象物的光线入射在受光部而检测来自固体摄像器件的测光输出，通过运算求出该测光输出与暗电流输出的差分，从而通过去除暗电流输出修正来自各受光元件的测光输出。

此外，还提出一种同时测定结构的测光装置，在受光部的端部设置罩体，并使来自测定对象物的光线不入射到由所述罩体包覆的受光元件上，同时检测来自由罩体包覆的受光元件的暗电流输出与来自没有由罩体包覆的各受光元件的测光输出，而且修正来自各受光元件的测光输出(例如，参照专利文献1)。

专利文献1：日本特开昭58-158528号公报

发明内容

然而，作为其结构为进行多次测定的测光装置，尽管能够精密测定，但是不当之处是测定较耗费时间。

在同时测定的结构的测光装置中，尽管可以实现测定速度的提高，然而其不当之处在于必须给受光部设置罩体且必须改变受光部的结构。此外，从各受光元件输出的暗电流未必一样，即便是一律扣除来自被罩体包覆的受光元件的暗电流输出并通过修正求出测光输出，也未必可以准确去除暗电流输出，因而从精密测定的观点来看是现有不足之一。

本发明的目的涉及一种测光装置，其不仅不用改变现有受光部的结构，并且既可抑制测定精度的降低，还可获得实现测定速度的提高的效果。

本发明的测光装置，其特征在于，包括：对来自测定对象物的光线进行分光并进行测光的分光测光光学系统；接收由该分光测光光学系统按波长分开的光线的受光部；根据该受光部的测光输出来运算测光特性的运算电路，所述分光测光光学系统具有：把来自测定对象物的光线变换成平行光束的准直透镜；按波长使通过了该准直透镜的光束分解的波长分解元件；使按波长分解了的各光束分别聚集在所述受光部的集光透镜；阻隔与可视光相比短波长一侧的光线的截止滤光器，所述受光部具有分别接收按波长分开了的光线的多个受光元件，所述多个受光元件与被分开的光线的指定的波长的位置对应而沿恒定方向排列，而且，所述多个受光元件排列在与由所述截止滤光器阻隔的短波长一侧的光线对应的位置上，配置在与由所述截止滤光器阻隔的短波长一侧的光线对应的位置上的受光元件的输出作为暗电流输出加以使用，在所述运算电路中设置有修正电路，该修正电路使用所述暗电流输出来修正配置在与相较于被阻隔的短波长一侧的光线而言的长波长一侧的波长的光线相对应的位置上的各受光元件产生的测光输出。

在本发明的测光装置中，优选的是，所述截止滤光器设置在准直透镜之前，该截止滤光器是用来修正各波长的敏感度的有色玻璃滤光器。

在本发明的测光装置中，优选的是，所述截止滤光器设置在准直透镜之后，该截止滤光器是用来修正各波长的敏感度的有色玻璃滤光器。

此外，在本发明的测光装置中，优选的是，所述截止滤光器阻隔波长在380nm以下的光线。

而且，本发明的测光装置优选的是：所述修正电路连接有存储部，该存储部对各个受光元件保存下述输出比，即：配置在与由所述截止滤光器阻隔的短波长一侧的光线相对应的位置上的受光元件的暗电流输出，与在配置在与相较于被阻隔的短波长一侧的光线而言的长波长一侧的各波长的光线相对应的位置上的各受光元件的输出、并且是在该各受光元件不受到光照的状况下借助测定所求出的输出的之比；所述修正电路根据上述之比，求出配置在与相较于短波长一侧的光线而言长波长一侧的各波长的光线对应的位置上的各受光元件的暗电流输出。

通过本发明，不仅不用改变现有受光部的结构，并且既可抑制测定精度的降低，还可获得实现测定速度的提高的效果。

附图说明

图1是表示本发明所述测光装置的结构的概况的说明图；

图2是表示本发明所述截止滤光器的透射率的光学特性图；

图3是本发明所述受光部的俯视图；