[发明专利]电压门控的金属增强荧光、化学发光或生物发光方法及系统

权利要求书

1.一种用于分析中的装置系统，所述系统包含：

a)基材上的导电金属表面，其中所述导电金属表面是沉积在所述基材上的恰好连续的薄膜并表现出低电阻，并且其中所述基材包括玻璃、石英或聚合材料；

b)位于导电金属表面上或其附近的分子，其中所述分子能够在激发时发射电磁能量；

c)用于激发所述分子并引起电磁能量发射的电磁能量源；

d)与所述导电金属表面相连、具有打开和关闭能力的直流电源；以及

e)用于测量发射电磁能量的检测器和/或用于测量通过所述导电金属表面的直流电的检测器。

2.权利要求1的系统，其中所述分子是荧光团、发色团或发光团。

3.权利要求1的系统，其中所述导电金属表面由选自金、银、铝和铜的金属制成。

4.权利要求1的系统，其中所述恰好连续的薄膜是电阻在约2到200欧姆范围内的导电金属薄膜。

5.权利要求1的系统，其中所述恰好连续的薄膜是电阻在约5到25欧姆范围内的导电金属薄膜。

6.权利要求1的系统，其中与所述导电金属薄膜交通连接的直流电的通过，导致与其中没有连接直流电的薄膜相比，由邻近的荧光团、发色团或发光团发射的电磁发射强度降低。

7.权利要求1的系统，其中电压源是蓄电池、太阳能电池或氢燃料电池。

8.权利要求1的系统，其中荧光团、发色团或发光团位于距所述金属表面约10到20nm处。

10.权利要求8的系统，其中所述系统用于免疫分析、杂交分析、共振能量转移分析、和基于偏振/各向异性的分析、基于生物发光的分析、基于化学发光的分析、基于发光的分析或酶联免疫吸附分析。

11.权利要求1的系统，其中所述激发电磁能量在从UV或IRE的范围内。

12.一种用于操纵来自金属增强荧光系统的发射的方法，所述方法包括：

a)在基材上提供导电金属表面，其中所述导电金属表面包含在所述基材上恰好连续的薄膜，并且其中所述基材包括玻璃、石英、铜或聚合材料；

b)将分子定位于所述导电金属表面附近，其中所述分子能够发射可检测的电磁能量，并且其中所述分子在距所述导电金属表面以增强发射的可检测电磁能量的强度的距离处定位；

c)施加电磁能量，所述电磁能量的波长足以激发所述分子并引起可检测的电磁能量发射；以及

d)将所述导电金属表面与电压源和可致动开关相连，其中所述开关打开允许直流电通过所述导电金属表面输送，这减小或停止可检测的电磁能量发射，且所述开关关闭为可检测的电磁能量发射提供可检测的电磁能量发射。

13.权利要求12的系统，其中所述分子是荧光团、发色团或发光团。

14.权利要求12的系统，其中所述导电金属表面由选自金、银、铝和铜的金属制成。

15.权利要求12的系统，其中所述恰好连续的薄膜是电阻在约2到200欧姆范围内的导电金属薄膜。

16.权利要求12的系统，其中所述恰好连续的薄膜是电阻在约5到25欧姆范围内的导电金属薄膜。

17.权利要求12的系统，其中与所述导电金属薄膜交通连接的直流电的通过，导致与其中没有连接直流电的薄膜相比，由邻近的荧光团、发色团或发光团发射的电磁发射强度降低。

18.权利要求12的系统，其中电压源是蓄电池、太阳能电池或氢燃料电池。

19.权利要求12的系统，其中所述荧光团、发色团或发光团位于距所述金属表面约10到20nm处。

20.权利要求19的系统，其中所述系统用于免疫分析、杂交分析、共振能量转移分析、和基于偏振/各向异性的分析、基于生物发光的分析、基于化学发光的分析、基于发光的分析或酶联免疫吸附分析。

21.权利要求12的系统，其中所述激发电磁能量在从UV或IR的范围内。