[发明专利]化学检测方法和系统有效

专利信息
申请号: 200980115116.7 申请日: 2009-03-05
公开(公告)号: CN102016561A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: M·S·马特加兹奇克;A·E·斯塔乌布斯 申请(专利权)人: 斯科特科技股份有限公司
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64;H01J49/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张阳
地址: 美国北*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 化学 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于检测样品中的所关注分析物的方法,所述方法包括:

使得自所述样品的一组离子穿过离子淌度谱仪以滤出为非关注离子的离子并且产生离子淌度谱;

利用质谱仪产生所述离子中的至少一些的质谱;以及

当所关注峰见于所述离子淌度谱和所述质谱中的一个或多个内并且所述所关注峰符合与所述所关注分析物相关的预定峰图案时确定所述所关注分析物存在于所述样品中。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述穿过操作包括使所述离子穿过多个彼此串联连接的离子淌度谱仪。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述产生操作包括使所述离子穿过多个彼此串联连接的质谱仪。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述所关注峰包括产生自与所述所关注分析物中的分子相关的离子的分子峰、产生自从所述所关注分析物获得的离子碎片的离子碎片峰、产生自由所述所关注分析物和搀杂剂之间的反应形成的化学物质的搀杂剂相关峰、以及代表所述所关注分析物的任何其他峰中的一个或多个。

5.根据权利要求4所述的方法,其中所述确定操作包括当所述质谱中的所关注峰包含所述分子峰与所述离子碎片峰、所述搀杂剂相关峰以及和所述所关注分析物相关的任何其他峰中的至少一个时,确定所述所关注分析物存在于所述样品中。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括通过在场补偿式离子淌度谱仪中利用分散电压和补偿电压获得所述所关注峰的初始部分以及在所述场补偿式离子淌度谱仪中利用不同的分散电压和不同的补偿电压中的至少一个获得所述所关注峰的附加部分来确认所述所关注峰中的至少一个的存在。

7.一种用于检测样品中的所关注分析物的系统,所述系统包括:

离子淌度谱仪,所述离子淌度谱仪被配置为接收得自所述样品的一组离子以便滤出为非关注离子的离子并且产生离子淌度谱;

质谱仪,所述质谱仪与所述离子淌度谱仪串联连接以便接收得自所述离子淌度谱仪的离子中的至少一些并且产生接收自所述离子淌度谱仪的所述离子的质谱;以及

计算装置,所述计算装置用于当所关注峰见于所述离子淌度谱和所述质谱中的一个或多个内并且所述所关注峰符合与所述所关注分析物相关的预定峰图案时来确定所述所关注分析物存在于所述样品中。

8.根据权利要求7所述的系统,还包括至少一个与所述离子淌度谱仪和所述质谱仪串联连接的附加离子淌度谱仪,所述离子从所述离子淌度谱仪和所述附加离子淌度谱仪中的每一个内穿过以便滤出为非关注离子的离子并且产生离子淌度谱。

9.根据权利要求7所述的系统,还包括至少一个与所述离子淌度谱仪和所述质谱仪串联连接的附加质谱仪,所述离子由所述质谱仪和所述附加质谱仪中的每一个来接收以产生质谱。

10.根据权利要求7所述的系统,其中所述所关注峰包括产生自与所述所关注分析物中的分子相关的离子的分子峰、产生自从所述所关注分析物获得的离子碎片的离子碎片峰、产生自由所述所关注分析物和搀杂剂之间的反应形成的化学物质的搀杂剂相关峰、以及与所述所关注分析物相关的任何其他峰中的一个或多个。

11.根据权利要求10所述的系统,其中所述计算装置在所述质谱中的所关注峰包括所述分子峰与所述离子碎片峰、所述搀杂剂相关峰以及和所述所关注分析物相关的任何其他峰中的至少一个时来确定所述所关注分析物存在于所述样品中。

12.根据权利要求7所述的系统,其中所述离子淌度谱仪包括场补偿式离子淌度谱仪,所述场补偿式离子淌度谱仪被配置为通过利用分散电压和补偿电压获得所述所关注峰的初始部分以及利用不同的分散电压和不同的补偿电压中的至少一个获得所述所关注峰的附加部分确认所述所关注峰中的至少一个的存在。

13.一种用于计算装置中被配置成确定所关注分析物是否存在于样品中的计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质包括指令以指示所述计算装置进行如下操作:

产生从所述样品中获得的离子的离子淌度谱和质谱中的一个或多个;

检测所述离子淌度谱和所述质谱中的一个或多个内的所关注峰;

确定所述所关注峰是否符合与所述所关注分析物相关的预定峰图案;

当所述所关注峰符合所述预定峰图案时提供所述所关注分析物存在于所述样品中的通知。

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