[发明专利]分析装置、方法和试剂

权利要求书

1.一种在多孔板上进行发光分析的装置，所述装置包括：(a)光检测子系统；(b)液体处理子系统；和(c)板处理子系统，其中，所述装置通过连续交错程序处理分析样品。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括聚焦于样品上的图形用户界面。

3.根据权利要求1-2中任一所述的装置，其特征在于，所述板处理子系统包括：

a)不透光封罩，包括：

(i)具有能够被升高和降低的板提升平台的一个或多个板升降器；

(ii)不透光封罩顶部，所述不透光封罩顶部具有被置于所述板升降器上方的一个或多个板引入口，并且具有成像口，其中，所述封罩顶部包括用于密封所述板引入口的滑动不透光门；以及

(iii)用于在一个或多个水平方向上平移板的板平移台，其中，所述板平移台包括用于支撑所述板的板支架，所述板支架具有开口，以允许被置于所述板支架下方的所述板升降器接近并提升所述板，且所述板平移台被设置成将所述板置于所述成像口下方以及将所述板置于所述板升降器上方；

b)一个或多个板堆垛器，所述一个或多个板堆垛器被安装于所述板引入口上方的所述封罩顶部上，其中，所述板堆垛器被设置成接收或传递板到所述板升降器上；以及

c)光检测器，所述光检测器安装于所述封罩顶部上，并通过不透光密封件连接到所述成像口上。

4.根据权利要求1-2中任一所述的装置，其特征在于，所述液体处理子系统还包括移液系统，用于传输液体到所述装置中的分析板的孔内或从其排出液体。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，

a)所述移液系统包括安装于移液平移台上的移液探针，所述移液平移台用于在竖直方向上和可选地在一个或多个水平方向上平移所述移液探针；

b)所述封罩顶部具有一个或多个移液口；

c)所述滑动不透光门具有一个或多个移液口，其中，所述滑动不透光门具有移液位置，在此位置上，所述封罩顶部上的所述移液口与上述滑动不透光门上的所述移液口对正；以及

d)所述移液平移台被安装于所述封罩顶部上，且被设置成允许当所述滑动不透光门处于所述移液位置时降低所述移液探针，以接近被置于所述封罩顶部上的所述移液口下方的孔。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括选自包括试剂和/或样品传输站、试剂和/或样品管架、探针清洗站、废液传输站和它们的组合的组中的部件，其中，所述移液平移台被设置成在一个或多个水平方向上移动，以接触所述部件内的液体和/或传输液体到所述部件内。

7.根据权利要求3-6中任一所述的装置，其特征在于，所述装置还包括板密封件穿刺探针。

8.根据权利要求3-6中任一所述的装置，其特征在于，所述装置还包括板密封件穿刺探针，其中：

(i)所述封罩顶部具有穿刺探针口；

(ii)所述滑动不透光门具有穿刺探针口，其中，所述滑动不透光门具有穿刺位置，在此位置上，所述封罩顶部的所述穿刺探针口与所述滑动不透光门的所述穿刺探针口对正；以及

(iii)所述穿刺探针被安装到所述封罩顶部上，且被设置成允许，当所述滑动不透光门处于所述穿刺位置时，降低所述穿刺探针以穿刺被置于所述封罩顶部的所述穿刺口下方的孔上的密封件。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述移液平移台包括探针平移元件，且所述移液平移台被设置成水平移动以便通过所述探针平移元件接触所述穿刺探针，和竖直移动以便通过所述探针平移元件降低和升高所述穿刺探针。

10.根据权利要求3-9中任一所述的装置，其特征在于，所述装置还包括板接触部件，以提供电能到被放置于所述光检测器下面的孔内的电极上。