[发明专利]电子设备装置的不正当拆卸检测方法有效
申请号: | 200980115922.4 | 申请日: | 2009-04-28 |
公开(公告)号: | CN102016868A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 马场勉 | 申请(专利权)人: | 日本电产三协株式会社 |
主分类号: | G06F21/06 | 分类号: | G06F21/06;G06K17/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子设备 装置 不正当 拆卸 检测 方法 | ||
1.一种电子设备装置的不正当拆卸检测方法,其特征在于,
该电子设备装置的不正当拆卸检测方法接收来自上位装置的指令,根据该指令执行处理,所述电子设备装置包括:
第一存储器,该第一存储器中存储有包含机密数据的电子信息;
检测单元,该检测单元对该电子设备装置的不正当拆卸进行检查;
电源控制单元,该电源控制单元基于来自所述检测单元的信号,切断对所述第一存储器的电源供应;
以及第二存储器,该第二存储器相对于所述第一存储器另外独立,即使通过所述电源控制单元切断电源供应,所存储的数据也不会被消去,
在将存储于所述第一存储器中的所述机密数据复制到所述第二存储器中后,使所述检测单元有效。
2.如权利要求1所述的电子设备装置的不正当拆卸检测方法,其特征在于,
在所述电子设备装置从所述上位装置接收使所述检测单元的检测功能有效的指令时,将存储于所述第一存储器的所述机密数据复制到所述第二存储器中。
3.如权利要求1或2所述的电子设备装置的不正当拆卸检测方法,其特征在于,
所述第一存储器和/或所述第二存储器为易失性存储器。
4.如权利要求1至3中任一项所述的电子设备装置的不正当拆卸检测方法,其特征在于,包括:
在使所述检测单元有效后,对是否正常残留有存储于所述第一存储器的所述机密数据进行判断的判断步骤;
以及在所述判断步骤的结果为未正常残留有所述机密数据时,使所述检测单元无效,在所述判断步骤的结果为正常残留有所述机密数据时,消去存储于所述第二存储器的所述机密数据的处理步骤。
5.如权利要求4所述的电子设备装置的不正当拆卸检测方法,其特征在于,
在执行了所述处理步骤之后,由所述电子设备装置对所述上位装置发送与所述处理步骤相关的响应。
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