[发明专利]用于测定辐射功率的方法、辐射功率的测定用耦合器以及用于测定辐射功率的装置无效

专利信息
申请号: 200980116649.7 申请日: 2009-05-08
公开(公告)号: CN102016608A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 手代木扶;桧谷绫;河村尚志;佐久间彻 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 胡金珑
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 用于 测定 辐射 功率 方法 耦合器 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种辐射功率测定方法,其包括:

配置可辐射电波的被测物(1)的电波的辐射中心,使其与将椭圆以通过其两个焦点(F1、F2)的轴线为中心旋转而得到的椭圆球状的金属的壁面(11)所包围的封闭空间(12)的一个焦点(F1)的附近大致一致的步骤;以及

将从该被测物辐射的电波在所述壁面反射而通过配置在另一个焦点(F2)的附近的接收天线(15)接收,从而根据该接收天线的输出信号在该接收天线的测定端测定被测物的总辐射功率的步骤,

其特征在于,

使所述被测物和所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,从而基于所述接收天线的输出信号功率成为最大的测定值,计算所述被测物的总辐射功率。

2.如权利要求1所述的辐射功率测定方法,其特征在于,

所述辐射功率测定方法包括:

使所述被测物和所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,从而将所述接收天线的输出信号功率设为最大,并将其作为第1测定值而进行存储的步骤;

使代替所述被测物而设置并接收信号供给而辐射电波的基准天线、以及所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,从而将所述接收天线的输出信号功率设为最大,并求出该最大值与所述第1测定值相等时的对所述基准天线输入的信号功率作为第2测定值的步骤;以及

基于所述第1测定值、第2测定值和所述基准天线的反射系数以及损耗,计算所述被测物的总辐射功率的步骤。

3.如权利要求1所述的辐射功率测定方法,其特征在于,

所述辐射功率测定方法包括:

使所述被测物和所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,从而将所述接收天线的输出信号功率设为最大,并将其作为第1测定值而进行存储的步骤;

使代替所述被测物而设置并接收信号供给而辐射电波的基准天线、以及所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,从而将所述接收天线的输出信号功率设为最大的状态下,使提供给所述基准天线的信号功率变化,求出表示该信号功率和与其对应的所述接收天线的输出信号功率之间关系的校正数据的步骤;以及

基于所述第1测定值、校正数据和所述基准天线的反射系数以及损耗,计算所述被测物的总辐射功率的步骤。

4.如权利要求1所述的辐射功率测定方法,其特征在于,

所述辐射功率测定方法包括:

使所述被测物和所述接收天线中的至少一个沿着通过所述2个焦点的轴线移动,在该天线的每个位置,在应测定的规定频率范围内的各频率下对所述接收天线的输出信号求出功率,将该每个频率的最大功率作为第3测定值而进行存储的步骤;

使代替所述被测物而设置并接收信号供给而辐射电波的基准天线、以及所述接收天线中至少一个沿着通过所述两个焦点的轴线移动,在该天线的每个位置,在所述应测定的各频率下对所述接收天线的输出信号求出功率,并将包括该每个频率的最大功率的数据作为第4测定值而进行存储的步骤;以及

以及基于所述第3测定值、第4测定值、所述基准天线的反射系数以及损耗,计算所述被测物在应测定的所述规定频率范围内的总辐射功率的步骤。

5.如权利要求4所述的辐射功率测定方法,其特征在于,

在代替所述被测物而使用所述基准天线时,求出校正数据作为所述第4测定值,所述校正数据表示对该基准天线提供的信号功率和与其对应的所述接收天线的输出信号的功率之间的关系。

6.如权利要求1至5的任一项所述的辐射功率测定方法,其特征在于,

使所述被测物或所述基准天线与所述接收天线一同,相对于所述两个焦点的中心对称地移动。

7.如权利要求4所述的辐射功率测定方法,其特征在于,包括:

存储由频率和输出强度构成的规定的标准的频谱屏蔽的步骤;以及

对应测定的规定频率范围内的每个频率的电波的总辐射功率的值以及所述频谱屏蔽进行比较,从而对是否满足所述标准进行优劣判定的步骤。

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