[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 200980118245.1 | 申请日: | 2009-04-21 |
公开(公告)号: | CN102037363A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 山口卓也;松原茂树 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,具备存储精度管理信息以及校准信息的至少一种的分析装置处理部,上述精度管理信息包含利用试剂进行的精度管理试样的测定结果和测定日期时间及进行测定的装置信息,上述校准信息包含利用试剂进行的校准结果和该校准的测定日期时间及进行测定的装置信息的校准信息,该自动分析装置的特征在于,
具备从设置于收放在容纳试剂的试剂收放部的试剂容器上的试剂容器ID标签读出信息,并将信息写入该试剂容器ID标签的试剂管理部,
上述分析装置处理部通过上述试剂管理部对上述试剂容器ID标签写入上述精度管理信息或上述校准信息。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的精度管理信息,并且具有显示已读取的精度管理信息的显示装置。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的精度管理信息,并且上述分析装置处理部基于已读取的精度管理信息判断是否需要实施校准。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
具有显示由上述分析装置处理部判断的是否需要实施校准的显示装置。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息,并且具有显示已读取的校准信息的显示装置。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息,并且在已读取的校准信息是由该自动分析测定得到的校准结果的情况下,上述分析装置处理部在检测物测定的浓度运算中使用该校准结果。
7.根据权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
具有显示由上述分析装置处理部判断的是否需要实施校准的显示装置。
8.根据权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息,并且上述分析装置处理部具有校准装置,该校准装置用于在已读取的校准信息是在规定期间以前测定的结果的情况下,自动地进行校准测定。
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