[发明专利]用于存储装置训练的嵌入式可编程元件

说明书

技术领域

本发明涉及存储装置以及训练此类装置的接口。

背景技术

在操作过程中，存储装置(例如动态随机存取存储器(dynamicrandom access memory；DRAM))可能遭遇其周围条件发生变化。例如，输入信号的波形可能有所变化，导致难以解释数据。此类信号的数据眼可能移动，导致难以定位。而且，其他条件也可能变化。例如，存储装置的工作时钟速度可能需要改变。此外，该存储装置接口处的带宽可能需要改变或受到限制，或者功耗可能需要调整。此类变化可影响该存储装置的性能。

理想情况下，存储装置应当有能力适应此类变化，以减少此类变化对存储装置性能的影响。但是，目前，存储装置响应此类变化条件的能力很有限。而且，与其他协议相比，例如图形双数据率第5版(Graphics Double Data Rate 5；GDDR5)等较新的协议要求更快的操作，因而要求存储装置快速适应变化条件。

因此，需要提供一种系统和方法以使存储装置(例如DRAM)能够响应其操作环境中的变化条件而快速地进行自调整或重训练。

发明内容

本发明的详细描述中，所提及的“一实施例”、“示例实施例”等表示所描述的实施例可包括特定的功能、结构或特征，但每个实施例并不一定都包括该特定的功能、结构或特征。而且，此类用语并不一定指同一实施例。此外，当联系一实施例描述特定的功能、结构或特征时，不论是否明确指出，都认为本领域的技术人员能够将此类功能、结构或特征实施于其他实施例中。

这里描述的本发明是一种使存储装置能够响应其输入或操作环境中的变化而进行自调整或重训练的系统和方法。该存储装置，例如DRAM，包括位于其接口中的嵌入式可编程元件。该可编程元件可为，例如但不限于，微处理器、微控制器或微序列器。该可编程元件经编程以响应该存储装置之输入信号的变化(例如输入信号的波形的变化)和/或周围环境的变化而改变该存储装置的该接口的操作。

一实施例中，为响应输入信号的波形中的变化，例如，该可编程元件经编程而用以检测该波形中的变化并重训练该存储装置的该接口。该重训练使该接口能够检测该已变化的输入数据的电子眼，从而使该存储装置能够继续接收并储存该输入信号中包含的数据。

在本发明的某些实施例中，该可编程元件经编程以响应周围环境中的其他变化，从而将此类变化对该存储装置的性能的影响减至最低。例如，在操作过程中，该接口处的带宽要求可被限制或被改变。此种情况下，可依据所改变的带宽要求编程该可编程元件，以更改该存储装置的该接口的操作参数。这样，该接口处的带宽参数可被改变，从而满足必要的带宽要求。类似地，该可编程元件经编程以影响环境中的其他变化，例如时钟速率的变化或功耗限制。在这些情况下，该可编程元件有效改变该存储装置的该接口处的操作参数，并使该存储装置能够在新的条件下继续其优化操作。该存储装置的该接口处的操作参数可包括时序参数、地址参数、充电参数、刷新参数、读/写参数等。这些示例仅为说明性质，而非意图限制本发明。

附图说明

下面参照附图描述本发明实施例。附图中，相同或功能类似的元件采用类似的附图标记。附图标记中最左边的数字通常表示首次出现相应元件的附图。

图1显示依据本发明实施例具有用于接口训练和测试的可编程元件的存储装置的示例系统图。

图2显示依据本发明实施例由可编程元件对存储装置进行接口训练的示例流程图。

图3显示依据本发明实施例当可编程元件获知操作条件中的变化时调整存储接口的示例流程图。

具体实施方式

系统综述

图1显示本发明的一实施例。该图显示存储装置110。该存储装置110可例如为DRAM装置。信号102向存储装置110提供输入数据。此类数据例如可包括要存储于存储装置110中的数据。输入信号102经由接口112进入存储装置110。接口112包括可编程元件120。在该所示实施例中，可编程元件120与同样位于接口112中的输入控制器114通信。本实施例中，输入控制器114控制接口112的操作。但是，输入控制器114相应受可编程元件120的输出的影响，例如，但不限于，发送至输入控制器114的该接口处的操作参数。