[发明专利]加工腔有效
申请号: | 200980120185.7 | 申请日: | 2009-03-24 |
公开(公告)号: | CN102047407A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | J·韦查尔特 | 申请(专利权)人: | OC欧瑞康巴尔斯公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱铁宏;杨楷 |
地址: | 列支敦士*** | 国省代码: | 列支敦士登;LI |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加工 | ||
1.一种用于处理基底的加工设备,包括:
用于装载所述基底的装载腔;
用于加工所述基底的加工腔;
使所述加工腔与所述装载腔隔开的密封面;以及,
用于将所述基底从所述装载腔垂直地移动至所述加工腔的器件,
其中,所述装载腔定位在所述加工设备的下部和上部中的一个中,以及所述加工腔定位在所述加工设备的下部和上部中的另一个中。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述装载腔定位在所述加工设备的下部中,以及所述加工腔定位在所述加工设备的上部中。
3.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述装载腔定位在所述加工设备的上部中,以及所述加工腔定位在所述加工设备的下部中。
4.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述设备还包括用于装载和卸载所述基底的第一开口和第二开口,其中,所述第一开口与所述第二开口相对。
5.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述加工设备为圆柱形的,且具有对称的界面。
6.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述加工腔对所述基底执行PVD加工。
7.一种用于在加工设备中处理基底的方法,所述加工设备具有用于装载所述基底的装载腔、用于加工所述基底的加工腔、使所述加工腔与所述装载腔隔开的密封面,以及用于使所述基底从所述装载腔垂直地移动至所述加工腔的器件,其中,所述装载腔定位在所述加工设备的下部和上部中的一个中,以及所述加工腔定位在所述加工设备的下部和上部中的另一个中,所述方法包括以下步骤:
将所述基底装载到所述装载腔;
由所述垂直移动器件通过所述密封面将所述基底从所述装载腔垂直地移动至所述加工腔;
在所述加工腔中处理所述基底;以及
从所述加工腔卸载所述基底。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述装载腔定位在所述加工设备的下部中,以及所述加工腔定位在所述加工设备的上部中。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述装载腔定位在所述加工设备的上部中,以及所述加工腔定位在所述加工设备的下部中。
10.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述加工设备具有用于装载和卸载所述基底的第一开口和第二开口,以及其中,所述第一开口与所述第二开口相对。
11.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述加工设备为圆柱形的,且具有对称的界面。
12.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述处理步骤包括对所述基底执行PVD加工。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造