[发明专利]气体分布喷头裙部无效
申请号: | 200980120558.0 | 申请日: | 2009-05-07 |
公开(公告)号: | CN102047388A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 汤姆·K·崔;布赖恩·赛-尤安·希尔;袁正 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;王金宝 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 分布 喷头 | ||
1.一种设备,其包括:
处理腔室主体;
气体分布喷头,设置在所述处理腔室主体中,所述气体分布喷头耦接至第一功率源并且具有大致矩形形状;
辅助电极,设置在所述处理腔室主体中,并且耦接至所述第一功率源或第二功率源;以及
基座,设置在所述处理腔室主体中,并且与所述辅助电极和所述气体分布喷头间隔开来。
2.如权利要求1所述的设备,其中所述气体分布喷头和所述辅助电极由单一整块材料形成。
3.如权利要求1所述的设备,其中所述气体分布喷头具有实质矩形形状,且所述辅助电极是在所述气体分布喷头的多个角落处耦接至所述气体分布喷头,且其中所述辅助电极沿着所述气体分布喷头的多个边缘耦接至所述气体分布喷头。
4.如权利要求1所述的设备,其中所述辅助电极耦接至所述第一功率源。
5.如权利要求1所述的设备,其中所述气体分布喷头和所述辅助电极耦接在一起。
6.如权利要求1所述的设备,其中所述气体分布喷头和所述辅助电极彼此互相电性隔离。
7.一种气体分布喷头,包括:
气体分布喷头主体,具有上游侧和下游侧,以及一或多个气体通道延伸在所述上游侧和所述下游侧之间,且所述气体分布喷头主体具有实质矩形形状;以及
一或多个辅助电极,耦接至所述气体分布喷头主体并且从所述气体分布喷头主体的所述下游侧延伸。
8.如权利要求7所述的气体分布喷头,其中所述一或多个辅助电极耦接至所述气体分布喷头主体的周缘,且其中所述一或多个辅助电极耦接至所述气体分布喷头主体的一或多个角落。
9.如权利要求7所述的气体分布喷头,其中所述气体分布喷头主体和所述一或多个辅助电极由单一整块材料形成。
10.如权利要求7所述的气体分布喷头,其中所述气体分布喷头主体和所述一或多个辅助电极是耦接在一起的分离部件,且其中所述一或多个辅助电极包含耦接在一起的多个部件。
11.一种等离子体增强化学气相沉积设备,其包括:
处理腔室主体;
基座,设置在所述处理腔室主体内;
气体分布喷头,设置在所述处理腔室主体中并且与所述基座分开,所述气体分布喷头具有下游表面和上游表面,所述下游表面面对所述基座,所述上游表面与所述下游表面相反,且所述气体分布喷头具有大致矩形形状;以及
一或多个辅助电极,设置在所述处理腔室主体中且位于所述气体分布喷头和所述基座之间,所述一或多个辅助电极连接至功率源并且至少部分地环绕介于所述基座和所述气体分布喷头之间的处理空间。
12.如权利要求11所述的设备,其中所述一或多个辅助电极耦接至所述气体分布喷头,其中所述一或多个辅助电极和所述气体分布喷头耦接至相同的所述功率源,其中所述气体分布喷头具有实质矩形的形状,且所述一或多个辅助电极耦接至所述气体分布喷头的多个角落,且其中所述一或多个辅助电极包含多个部件。
13.如权利要求11所述的设备,其中所述一或多个辅助电极与所述气体分布喷头和所述基座电性隔离。
14.如权利要求11所述的设备,其中所述一或多个辅助电极耦接至所述气体分布喷头的周缘并且从所述下游表面延伸。
15.如权利要求11所述的设备,其中所述一或多个辅助电极和所述气体分布喷头由单一整块的材料形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造