[发明专利]通过霍尔效应来测量位置的装置

权利要求书

1.一种通过霍尔效应来测量位置的装置，所述装置包括：

- 箱盒（30）；

- 霍尔效应传感器（1），其包括圆柱形磁体（10）和芯片（20）；

其中：

- 所述芯片（20）固定到所述磁体（10）；

- 所述磁体（10）沿垂直于其底部的轴线穿有贯穿孔（11），并且包括外周界（12）和内周界（13）；

- 所述传感器（1）置于所述箱盒（30）中，

所述装置的特征在于：

- 所述内周界（13）相对于所述磁体（10）的机械约束是最大的；并且

- 所述孔（11）的面积大于或等于所述芯片（12）的面积，以消除铁锉屑在所述芯片（20）对面的存在。

2.如权利要求1所述的装置，其中，所述外周界（12）相对于所述箱盒（30）中的可用空间是最大的。

3.如上述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述外周界（12）和/或所述内周界（13）包括至少一个平面。

4.如权利要求3所述的装置，其中，所述外周界（12）和所述内周界（13）的比率是2：1。

5.如上述权利要求中任一项所述的装置，所述装置还包括铁磁靶（50），其中，所述靶（50）被非铁磁元件（60）围绕，所述非铁磁元件对聚集在所述传感器下方的锉屑进行机械清扫。

6.如权利要求5所述的装置，其中，所述非铁磁元件（60）尽可能靠近所述芯片（20）布置。

7.如权利要求5或6中任一项所述的装置，其中，所述非铁磁元件（60）是由塑料制成的。

8.如权利要求5至7中任一项所述的装置，其中，所述非铁磁元件（60）的形状适于所述靶（50）和所述霍尔效应传感器（1）的相对运动。

9.如上述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述芯片（20）相对于所述磁体（10）的高斯零点偏移。